華科便攜式測(cè)試儀-檢修用IGBT測(cè)試儀

1.1設(shè)備數(shù)量1套*1.2設(shè)備功能測(cè)試功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)參數(shù)*1.3設(shè)備組成設(shè)備包含硬件模塊和軟件模塊兩大部分*1.4硬件模塊設(shè)備硬件部分應(yīng)包括測(cè)試主機(jī)、測(cè)試線纜，測(cè)試夾具、控制電腦等*1.5軟件模塊設(shè)備軟件部分應(yīng)包括：1.操作系統(tǒng)、備份、保存、遠(yuǎn)程控制編輯、上傳、故障自檢報(bào)警等基本功能；2. 圖形化操作界面；中/英文操作系統(tǒng)3.輸出EXCEL、wor測(cè)試報(bào)告*4.切換大小功率測(cè)試模塊，達(dá)到相應(yīng)測(cè)試精度*5.可生成器件的I-V特性曲線，曲線上測(cè)試點(diǎn)數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出到EXCEL表格；*6.同一測(cè)試條件的器件的測(cè)試曲線可以在軟件內(nèi)進(jìn)行對(duì)比，新測(cè)曲線可以與原測(cè)曲線進(jìn)行對(duì)比；01mA
柵極電壓VGE：0V
6）柵極-發(fā)射極閾值電壓
VGEth：1-10V±2%±0。2、設(shè)備尺寸2.1設(shè)備總體長度≤ 700 mm2.2設(shè)備總體寬度≤600mm2.3設(shè)備總體高度≤500mm

測(cè)量目的：對(duì)模塊的電壓降參數(shù)進(jìn)行檢測(cè)，檢修用IGBT測(cè)試儀廠家， 可判斷模塊是否處于正常狀態(tài)。功率模塊的VCE-IC特性曲線會(huì)隨著器件使用年限的增加而變化，飽和壓降Vcesat會(huì)逐漸劣化。因此，定期檢測(cè)可預(yù)防發(fā)現(xiàn)功率模塊故障。且變流器由多個(gè)模塊組成，由于個(gè)體差異，大電流情況下的參數(shù)也會(huì)存在個(gè)體差異。因此，測(cè)量大電流情況下的各個(gè)模塊實(shí)際技術(shù)參數(shù)，進(jìn)行跟蹤管理，可有效保障機(jī)車中間直流環(huán)節(jié)可靠運(yùn)行。1V
3）集電極-發(fā)射極電壓
集電極電壓VCES：100-5000V±2%±10V
集電極電流ICES：0。IGBT模塊VCE-IC特線（單管），Vcesat隨電流變大而增大。

半導(dǎo)體元件除了本身功能要良好之外，其各項(xiàng)參數(shù)能否達(dá)到電路上的要求，必須定期測(cè)量，否則產(chǎn)品的質(zhì)量特性很難保證，尤其是較大的功率元件，因具有耗損性，易老化及效率降低，檢修用IGBT測(cè)試儀，因不平衡導(dǎo)致燒毀，甚至在使用中會(huì)發(fā)生。所以對(duì)新產(chǎn)品及使用中的元件參數(shù)的篩選及檢查更為重要。 半導(dǎo)體元件的每一個(gè)參數(shù)，依其極性的不同，都須要一個(gè)的測(cè)量電路，我公司所設(shè)計(jì)生產(chǎn)的半導(dǎo)體元件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，檢修用IGBT測(cè)試儀價(jià)格，具有一組繼電器形成的矩陣電路，依每個(gè)參數(shù)的定義，形成千變?nèi)f化的電路，再依元件的出廠規(guī)格加上額定的電流或電壓后，在極短的時(shí)間內(nèi)將所須要的數(shù)據(jù)量測(cè)出來，且有些參數(shù)從量測(cè)的數(shù)據(jù)經(jīng)快速運(yùn)算即可得知其特性是否在規(guī)定范圍內(nèi)。測(cè)試參數(shù)多且完整、應(yīng)用領(lǐng)域更廣泛，但只要使用其基本的2項(xiàng)功能：「開啟」電流壓降，「關(guān)閉」電流的漏電流，就可知道大功半導(dǎo)體有沒有老化的現(xiàn)象。