影像測(cè)量?jī)x是精密測(cè)量?jī)x器,材料試驗(yàn)拉力機(jī)工廠,在測(cè)量過(guò)程中一點(diǎn)差錯(cuò)即可導(dǎo)致整個(gè)測(cè)量失敗。因此,二次元測(cè)量?jī)x在使用過(guò)程中除了必須遵守儀器的測(cè)量規(guī)范和要求,測(cè)量人員還要遵循影像測(cè)量?jī)x通用的測(cè)量要求。在工業(yè)測(cè)量中,影像測(cè)量?jī)x應(yīng)用范圍非常廣泛,既可以用于針對(duì)質(zhì)量控制的工件測(cè)量,也可以用于逆向工程。在開(kāi)始測(cè)量前,我們首先需要了解測(cè)量的一些基本要求,材料試驗(yàn)拉力機(jī),以盡可能地減少測(cè)量誤差,提高測(cè)量精度和穩(wěn)定性。

大允許探測(cè)誤差(MPEP):25點(diǎn)測(cè)量精密標(biāo)準(zhǔn)球,探測(cè)點(diǎn)分布均勻。大允許探測(cè)誤差MPEP值為所有測(cè)量半徑的大值。ISO 10360-3 (2000) “配置轉(zhuǎn)臺(tái)軸線為第四軸的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)” :對(duì)于配備了轉(zhuǎn)臺(tái)的測(cè)量機(jī)來(lái)說(shuō),測(cè)量機(jī)的測(cè)量誤差在這部分進(jìn)行了定義。主要包含三個(gè)指標(biāo):徑向四軸誤差(FR)、切向四軸誤差(FT)、軸向四軸誤差(FA)。ISO 10360-4 (2003) “掃描測(cè)量型坐標(biāo)測(cè)量機(jī)” :這個(gè)部分適用于具有連續(xù)掃描功能的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。它描述了在掃描模式下的測(cè)量誤差。

儀器優(yōu)點(diǎn)1、裝配2個(gè)可調(diào)的光源系統(tǒng),不僅觀測(cè)到工件輪廓,材料試驗(yàn)拉力機(jī)單價(jià),而且對(duì)于不透明的工件的表面形狀也可以測(cè)量。2、使用冷光源系統(tǒng),可以避免容易變形的工件在測(cè)量是因?yàn)闊岫冃嗡a(chǎn)生的誤差。3、工件可以隨意放置。4、儀器操作容易掌握。5、測(cè)量方便,只需要用鼠標(biāo)操作。6、Z軸方向加探針傳感器后可以做2.5D的測(cè)量。.
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