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CR模式的直流電子負(fù)載批發(fā)通常用于模擬實(shí)際存電阻特性的電子設(shè)備,用于測(cè)試既可以工作在CV,也可以工作CC模式的電源。其實(shí)直流電子負(fù)載批發(fā)在CV或CC工作模式控制上是非常相似的,但大部分的直流電子負(fù)載批發(fā)還能模擬純電阻特性的負(fù)載。在恒流模式下,不管輸入電壓是否改變,直流電子負(fù)載批發(fā)消耗一個(gè)恒定的電流。全天科技擁有一批長(zhǎng)期致力于加工直流電子負(fù)載批發(fā)的專(zhuān)門(mén)人員,的生產(chǎn)能力及務(wù)實(shí)的現(xiàn)代企業(yè)管理理念是公司發(fā)展堅(jiān)強(qiáng)后盾,我們專(zhuān)門(mén)進(jìn)行直流電子負(fù)載批發(fā),質(zhì)量方面的問(wèn)題您大可以放心。

以工作模式CC和CV為例,直流電子負(fù)載批發(fā)的簡(jiǎn)化電路在CC模式下,通過(guò)檢測(cè)采樣電阻上電壓,得到流過(guò)晶體管的電流,也就是負(fù)載電流,通過(guò)控制晶體管的驅(qū)動(dòng)電壓大小,來(lái)實(shí)現(xiàn)流過(guò)晶體管電流恒定,此時(shí)晶體管工作在飽和區(qū)。在CV模式下,和CC模式很近似,通過(guò)檢測(cè)采樣電阻電壓,得到晶體管的源漏極電壓,也就是負(fù)載電壓。通過(guò)控制晶體管的驅(qū)動(dòng)電壓大小,來(lái)控制晶體管導(dǎo)通等效電阻Rds大小,實(shí)現(xiàn)源漏極電壓恒定,此時(shí)晶體管工作在線性區(qū)。

在DCDC電源測(cè)試中,負(fù)載瞬態(tài)測(cè)試(Load Transient Test)是十分重要的一環(huán),利用負(fù)載瞬態(tài)測(cè)試,可以快速評(píng)估所測(cè)電源的穩(wěn)定性與快速性,而在DCDC轉(zhuǎn)換器芯片的選型時(shí),負(fù)載瞬態(tài)測(cè)試表現(xiàn)也是評(píng)估該芯片動(dòng)態(tài)性能的重要參考。負(fù)載瞬態(tài)通常使用直流電子負(fù)載批發(fā)(E-Load)進(jìn)行測(cè)試,前面提到,負(fù)載的跳變斜率(Slew Rate)將對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生關(guān)鍵影響,然而受設(shè)備內(nèi)部電路限制,常規(guī)直流電子負(fù)載批發(fā)所能實(shí)現(xiàn)的di/dt不會(huì)很高,另外受不同廠家設(shè)計(jì)等因素影響,不同型號(hào)的直流電子負(fù)載批發(fā)其能實(shí)現(xiàn)的跳變速率也不盡相同。


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