[冷熱沖擊 冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī) 恒溫恒濕 老化壽命測(cè)試機(jī) 高低溫試驗(yàn)機(jī) 老化 小型冷熱沖擊 迷你型冷熱沖擊 兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī) 迷你型冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)]
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| 基本參數(shù) | |||
| 型號(hào) | TCT-100 | ||
| 內(nèi)箱尺寸(W*H*D)cm | 50*40*50 | ||
| 外箱尺寸(W*H*D)cm | 139*198*186 | ||
| 蓄冷蓄熱溫度范圍 | 低溫 -80℃、-70℃、-60℃~-20℃,高溫85℃~170℃ | ||
| 沖擊溫度范圍 | 低溫-60℃、-50℃、-40℃~-0℃,高溫 65℃~150℃ | ||
| 升降溫時(shí)間 | 常溫→-60℃ 約55分鐘 常溫→150℃ 約30分鐘 | ||
| 箱溫恢復(fù)時(shí)間 | 5分鐘內(nèi),動(dòng)作時(shí)間10秒內(nèi)完成 | ||
| 沖擊方式 | 二箱沖 | ||
| 溫度波動(dòng)度 | ±1℃ | ||
| 溫度均勻度 | ±1℃(-40~100℃) | ||
| 內(nèi)外箱材質(zhì) | 內(nèi)箱采用SUS304不銹鋼,外箱采用特殊鋼板+粉體烤漆 | ||
| 保溫材質(zhì) | PU發(fā)泡+高密度玻璃纖維棉 | ||
| 冷凍系統(tǒng) | 采用二元冷煤系統(tǒng)使用4A、環(huán)保冷煤 | ||
| 壓縮機(jī) | 半封閉比澤爾壓縮機(jī) | ||
| 冷凝方式 | 水冷 | ||
| 控制器 | 人機(jī)+PLC+溫度控制器 | ||
| 保護(hù)裝置 | 超溫保護(hù)、壓力保護(hù)、過(guò)載保護(hù)、無(wú)熔絲保護(hù)開(kāi)關(guān)、相序保護(hù)開(kāi)關(guān)、水流保護(hù)、壓縮機(jī)過(guò)熱保護(hù)、氣壓保護(hù)、閥門(mén)到位保護(hù)、箱門(mén)到位保護(hù) | ||
| 電源 | 3∮AC380V 50Hz 55A | ||
| 沖擊溫度范圍 | A(-45°C) | B(-55°C) | C(-65°C) |
| 價(jià)格 | 178000.00 | 187500.00 | 195000.00 |
| 備注 | 可定做其它規(guī)格 | ||
*冷熱沖擊試驗(yàn)箱的系統(tǒng)利用低溫及高溫蓄冷蓄熱儲(chǔ)存槽、依動(dòng)作需要將測(cè)試區(qū)進(jìn)行上下移動(dòng)而 達(dá)到快速?zèng)_擊的效果(動(dòng)作時(shí)間10秒內(nèi)完成)
*低溫采用制冷系統(tǒng)冷熱電磁閥交替輸出進(jìn)行控溫,高溫采用加熱器點(diǎn)放進(jìn)行控
溫,以降低機(jī)臺(tái)使用能耗、達(dá)到節(jié)能效果
*采用彩色觸控屏+PLC,中文顯示所有參數(shù)直接設(shè)定、操作方便簡(jiǎn)單
*溫度控制采用PID+SSR控制、控制穩(wěn)定
*制冷系統(tǒng)與加熱系統(tǒng)完全獨(dú)立的冷熱沖擊試驗(yàn)箱能長(zhǎng)期穩(wěn)定使用
*具有溫度曲線記錄功能(記錄儀屬選購(gòu)件)
*冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料在瞬間情況下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度、及以在最短時(shí)間內(nèi)因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
沖擊溫度范圍:低溫-65℃、-55℃、-45℃~0℃;高溫65℃~150℃
內(nèi)箱容積:49L、100L、150L或客制化規(guī)格
選 配:記錄儀、水冷或風(fēng)冷冷凝方式


1.本系統(tǒng)利用高低溫蓄能槽將能量進(jìn)行儲(chǔ)存、依動(dòng)作需要將測(cè)試區(qū)移動(dòng)至冷區(qū)或熱區(qū)以達(dá)到快速?zèng)_擊的效果、動(dòng)作完成時(shí)間為10S以內(nèi)。
2.冷熱沖擊試驗(yàn)箱采用進(jìn)口LCD彩色觸控屏+PLC進(jìn)行控制、操作簡(jiǎn)單。
3.具有沖擊溫度記錄功能(CVS格式),多重安全保護(hù)功能。
4.適用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料在瞬間情況下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度、藉以在最短時(shí)間內(nèi)因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn):
*GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
*GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
*GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化
*GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
*GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件




*備注:以上機(jī)臺(tái)規(guī)格、材料及照片以機(jī)臺(tái)實(shí)際為準(zhǔn),本公司保留修改權(quán)利。



注冊(cè)資金:100萬(wàn)-500萬(wàn)
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