CB-100探針座 集成電路電路測(cè)試探針座 射頻針座 探針連接器真空底座

CB-100

亞微米電路/射頻測(cè)試針座

特點(diǎn)：

亞微米工藝集成電路電路測(cè)試

可以配合同軸/三軸探針夾具使用

夾具可以30度范圍傾仰

可以使用鎢探

可以配置為東/南/西/北四個(gè)方向的射頻針座

可以配合使用校準(zhǔn)片和校準(zhǔn)軟件

探頭接口和線纜45度連接，無(wú)需 L 型轉(zhuǎn)接頭

探頭可以拆卸維修

帶射頻測(cè)試線固定裝置

規(guī)格：

X-Y-Z移動(dòng)行程：12 x 12x 12mm

移動(dòng)精度:0.7 微米

絲杠精度：100 Thread / Inch

射頻測(cè)試能力：直流到 40GHz ~ 120GHz

固定方式：磁力翻轉(zhuǎn)，帶磁性開(kāi)關(guān)

移動(dòng)方式：線性移動(dòng)，無(wú)后座力移動(dòng)

尺寸:90長(zhǎng) x 130寬 x 90mm高

重量:700 克

附件：三軸探針夾具 同軸探針夾具 磁力底座 磁力翻轉(zhuǎn)底座 真空底座

電動(dòng)針座升級(jí) 射頻探頭 光纖探頭 低電流/電容點(diǎn)測(cè)配件 高壓配件