液體閃爍計(jì)數(shù)器,Hidex計(jì)數(shù)器,Hidex 300SL計(jì)數(shù)器

Hidex 300SL帶反符合探測(cè)器及低本底光電倍增管的超低本底自動(dòng)TDCR液閃計(jì)數(shù)器可用于低水平Alpha及Beta核素的測(cè)量，特別適合于低水平環(huán)境同位素監(jiān)測(cè)、C-14斷代、生物能源勘查等應(yīng)用，可以在沒(méi)有外標(biāo)準(zhǔn)源的情況下直接進(jìn)行DPM計(jì)數(shù)并且在選配了Alpha/Beta分離電子學(xué)電路模塊的情況下，可以進(jìn)行Alpha超低水平測(cè)量。

Hidex 300SL計(jì)數(shù)器簡(jiǎn)介：

供電方式：100V-240V 交流或24V直流 
Hidex 300SL液體閃爍計(jì)數(shù)器按的TDCR技術(shù)原理采用了3支低本底光電倍增管以實(shí)現(xiàn)低水平的TDCR計(jì)數(shù)，同時(shí)還采用主動(dòng)反符合探測(cè)器以減少來(lái)自環(huán)境本底的影響；計(jì)數(shù)器應(yīng)用軟件工作在Windows環(huán)境下，用戶(hù)操作界面友好。本計(jì)數(shù)器采用小型化、低重量設(shè)計(jì)，可以很方便集成進(jìn)小型化實(shí)驗(yàn)室從而使系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)真正的可移動(dòng)。儀器附帶有腳輪的實(shí)驗(yàn)桌。
Hidex 300SL液體閃爍計(jì)數(shù)器采用最少70mm厚的鉛層設(shè)計(jì)以進(jìn)一步降低本底。
Hidex 300SL液體閃爍計(jì)數(shù)器可在沒(méi)有放射性標(biāo)準(zhǔn)源的情形下，采用TDCR淬滅校正技術(shù)自動(dòng)得到DPM值，由于沒(méi)有放射源，因此當(dāng)儀器需要移動(dòng)時(shí)，避免了辦理放射源許可以及放射源退役處理的麻煩以及費(fèi)用，盡管如此，?本儀器也可采用傳統(tǒng)的Eu-152外標(biāo)準(zhǔn)源校正的方法作為備選項(xiàng)。
Hidex 300SL是為專(zhuān)業(yè)的技術(shù)人員設(shè)計(jì)用于實(shí)驗(yàn)室研究使用。

Hidex 300SL計(jì)數(shù)器特點(diǎn)：
Hidex 300SL 系列型號(hào)為425-020的液閃是一款配置反符合探測(cè)器及低本底光電倍增管的超低本底自動(dòng)TDCR液閃計(jì)數(shù)器

同位素
液閃計(jì)數(shù)法探測(cè)Alpha/Beta射線(xiàn)檢測(cè)
LSC模式下Beta發(fā)射體能量探測(cè)范圍可達(dá)2000keV
LSC模式下Alpha發(fā)射體能量探測(cè)范圍可達(dá)10000keV
系統(tǒng)預(yù)設(shè)的測(cè)試程序：H-3（無(wú)淬滅、高含水及低含水量樣品），C-14，S-35，P-33，P-32，F(xiàn)e-55，I-125，Ni-63，Sr-90/Y-90以及自由測(cè)試程序。其他核素以及切倫科夫計(jì)數(shù)測(cè)試程序也可以很容易定義。
在一次測(cè)量中可以定義最多4個(gè)感興趣能量區(qū)域（ROI）。

數(shù)據(jù)分析
多道分析技術(shù)
兩路對(duì)數(shù)功能多道，每路1024道。
采用Report Render程序分析Beta及Alpha譜
通過(guò)MicroWin 2000軟件或微軟Excel宏分析淬滅校正曲線(xiàn)
基于TDCR的淬滅校正方法、TDCR-淬滅曲線(xiàn)校正法、Eu-152外標(biāo)準(zhǔn)源淬滅曲線(xiàn)校正法（選購(gòu)件）

計(jì)數(shù)模式
Beta（全部符合計(jì)數(shù)），Beta Triple（三管符合計(jì)數(shù)以及Alpha計(jì)數(shù)模式（Alpha/Beta分離技術(shù)，選購(gòu)件）
通過(guò)三管對(duì)兩管符合比直接測(cè)量Beta效率
三管符合計(jì)數(shù)模式可在樣品有熒光樣品的情況測(cè)量而沒(méi)有任何影響，同時(shí)也可以用于低水平計(jì)數(shù)。
物理尺寸：
桌子：1000mm（寬）×700mm（深）×590mm（高）；帶制冷選購(gòu)項(xiàng)時(shí)，深為812mm
300SL：520mm（寬）×630mm（深）×680mm（高）；
總重量：180kg

操作條件：
+10℃-+40℃；相對(duì)濕度：80%（溫度不超過(guò)31℃），隨著溫度升高，相對(duì)濕度線(xiàn)性衰減為40℃。
僅適用于室內(nèi)使用。
灰塵：系統(tǒng)僅適合于正常的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下工作。
光照：系統(tǒng)僅適合在正常的實(shí)驗(yàn)室光照情況下工作。

儲(chǔ)存及運(yùn)輸條件：
運(yùn)輸：-40℃-+70℃，濕度：5-90%，采用合適的運(yùn)輸包裝。
儲(chǔ)存：-25℃-+70℃，濕度：5-90%，采用運(yùn)輸包裝。

外接電源：
電壓：100-240V AC。
頻率：50-60Hz。
正常功率消耗：100W。
功率消耗：350W。

樣品：
樣品瓶：5ml、7ml及20ml。
樣品瓶的蓋子須為平頂以保證氣動(dòng)機(jī)械裝置抓取。
樣品瓶最小尺寸：高55mm/直徑14mm。
樣品瓶的兼容性必須事先向Hidex確認(rèn)。
樣品瓶須放置于96×5ml，96×7ml或40×20ml樣品瓶的支架中
樣品支架系統(tǒng)可以與液體處理、細(xì)胞處理設(shè)備集成于一體。

計(jì)數(shù)時(shí)間：
1秒-168小時(shí)（7天/每個(gè)樣品。
單個(gè)測(cè)量程序的重復(fù)測(cè)量次數(shù)為1024次（可以實(shí)現(xiàn)動(dòng)力學(xué)測(cè)量）

樣品傳輸方式：
機(jī)械手+氣動(dòng)機(jī)械裝置實(shí)現(xiàn)任何樣品瓶的抓取、移動(dòng)并放入測(cè)量室或從測(cè)量室取出并放回樣品支架原始位置。

靜電：
在將樣品移動(dòng)并放入探測(cè)器前通過(guò)去離子裝置進(jìn)行處理
用戶(hù)可以設(shè)置樣品去離子時(shí)間間隔為1秒。

淬滅校正方法：
儀器具有自動(dòng)顏色、化學(xué)淬滅及熒光探測(cè)校正功能。淬滅校正可以通過(guò)以下方法實(shí)現(xiàn)：

1.TDCR校正方法
可以無(wú)需使用任何外標(biāo)準(zhǔn)或內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)源直接自動(dòng)測(cè)量樣品的DPM值。
可以無(wú)需使用任何外標(biāo)準(zhǔn)或內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)源直接測(cè)量具有相同淬滅的雙Beta標(biāo)記核素的DPM值。
DPM與真值的偏差依樣品的淬滅程度以及核素的種類(lèi)的不同一般不超過(guò)+/-10%（典型為小于+/-5%）。
TDCR校正方法可以與淬滅曲線(xiàn)校正方法聯(lián)合使用形成的TDCR-淬滅校正曲線(xiàn)可以使DPM值的準(zhǔn)確度提高到小于+/-2%。

2.Eu-152外標(biāo)準(zhǔn)源校正法（選購(gòu)項(xiàng)）。
建議只有在雙或三核素標(biāo)記且核素的淬滅不同時(shí)需要使用該校正方法

3.淬滅校正曲線(xiàn)法

Hidex 300SL計(jì)數(shù)器操作及軟件
本計(jì)數(shù)器使用的應(yīng)用軟件如下：
基于Windows系統(tǒng)的MicroWin 2000用戶(hù)應(yīng)用軟件，兼容CFR 21 part 11.
Hidex 控制軟件

數(shù)據(jù)采用以下軟件：
MikroWin 2000軟件
基于Excel的Report Render譜分析軟件
數(shù)據(jù)可以以各種用戶(hù)定義的數(shù)據(jù)格式（txt，xls，csv等）導(dǎo)出至別的數(shù)據(jù)處理軟件或數(shù)據(jù)庫(kù)。