深圳HAST測試機(jī)構(gòu) HAST高加速老化測試標(biāo)準(zhǔn) HAST試驗(yàn)報(bào)告

HAST測試報(bào)告、HAST試驗(yàn)方法.

項(xiàng)目介紹

HAST測試：也稱（高加速老化試驗(yàn)）。目的為了提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多為了提高試驗(yàn)效率和減少測試時(shí)間。

HAST測試參考標(biāo)準(zhǔn)：

IEC 60068-2-66:1994

GB/T2423.40-1997 等

測試范圍：

顯示屏、IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料，EVA、光伏組件 等等。

環(huán)境可靠性試驗(yàn)：

是指為整機(jī)和電工電子元器件或材料提供的一種人工模擬氣候環(huán)境條件或加速試驗(yàn)條件，以評估實(shí)際使用環(huán)境對產(chǎn)品或材料性能的預(yù)期影響，目的在于暴露產(chǎn)品在元器件選擇和結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)以及工藝方面的缺陷，以改進(jìn)產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)能力.

氣候環(huán)境試驗(yàn)一般分為模擬試驗(yàn)、加速試驗(yàn)兩種。如常規(guī)的高低溫儲存試驗(yàn)為環(huán)境模擬試驗(yàn)，試驗(yàn)周期較長。而快速溫變試驗(yàn)或HALT試驗(yàn)等則為加速試驗(yàn)，可以明顯縮短環(huán)境可靠性試驗(yàn)周期，快速暴露出產(chǎn)品在使用壽命周期內(nèi)的缺陷。大多數(shù)產(chǎn)品在定型前都需要進(jìn)行環(huán)境可靠性試驗(yàn)，以評估其在使用環(huán)境條件下的長期適應(yīng)能力.

環(huán)境可靠性測試項(xiàng)目：

HAST測試、高低溫試驗(yàn),溫度循環(huán)試驗(yàn)、防塵防水試驗(yàn)、霉菌試驗(yàn)、老化試驗(yàn)、太陽輻射試驗(yàn)、氣體腐蝕試驗(yàn)、低氣壓試驗(yàn)、鹽霧腐蝕測試 等等。

機(jī)械環(huán)境可靠性測試項(xiàng)目：

振動試驗(yàn)、碰撞試驗(yàn)、跌落試驗(yàn),沖擊試驗(yàn)、堆碼試驗(yàn)、拉力試驗(yàn)、折彎試驗(yàn) 等等。

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