光學(xué)儀器低氣壓測(cè)試低溫低氣壓試驗(yàn)低氣壓試驗(yàn)方法GB12085.5

公司名稱：深圳市賽特檢測(cè)有限公司

低氣壓試驗(yàn)

項(xiàng)目介紹

    低氣壓試驗(yàn)確定產(chǎn)品在低氣壓氣候環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。低氣壓試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于溫度、氣壓、曝露持續(xù)時(shí)間。低氣壓測(cè)試主要用于確定儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備在低氣壓、高溫、低溫單項(xiàng)或同時(shí)作用下的環(huán)境適應(yīng)性與可靠性試驗(yàn)，并或同時(shí)對(duì)試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測(cè)量。

低氣壓測(cè)試應(yīng)用領(lǐng)域

    電子電氣零部件、汽車產(chǎn)品、通訊產(chǎn)品、航空器材、PCB、PCBA、儀器儀表、家用電器等。

低氣壓測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

GB12085.5 光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法 綜合低溫與低氣壓

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JB3224-83使用于高海拔地區(qū)電工產(chǎn)品低氣壓試驗(yàn)方法

IEC 60068-2-41低氣壓試驗(yàn)，海拔環(huán)境模擬測(cè)試
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IEC 60068-2-13、GB/T 2423.25、IEC 60068-2-40、GB/T 2423.26等

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