光學(xué)元件表面缺陷檢測設(shè)備

光學(xué)元件表面缺陷檢測設(shè)備

光學(xué)元件表面缺陷檢測設(shè)備,利用光學(xué)方法，采用權(quán)值成像數(shù)據(jù)分析原理，用來檢測光學(xué)元件的表面外觀缺陷問題。測量時，將待測產(chǎn)品置于光學(xué)鏡頭下方，逐個采集每個產(chǎn)品表面的圖像，并對圖像進(jìn)行連續(xù)的數(shù)字化處理分析，然后與預(yù)存的“標(biāo)準(zhǔn)”進(jìn)行比較分析進(jìn)而作出缺陷結(jié)論。

強大的自動學(xué)習(xí)功能：
編程簡單快捷，同時強大的自動學(xué)習(xí)功能，使各種規(guī)格、類型的器件都可以通過在器件輪廓處畫框?qū)W習(xí)，電腦主板的編程時間為極高的易用性：
中英文界面可選，并配備學(xué)習(xí)向?qū)?，操作簡單；另外只需要器件?/span>XY坐標(biāo)和電路板的出料單（BOM）或者貼片機導(dǎo)出文件就可以自動學(xué)習(xí)。

  光學(xué)元件外觀缺陷檢測儀
判別方法：權(quán)值成像數(shù)據(jù)差異分析、彩色成像比對原理

檢測內(nèi)容：元件有無、偏斜、劃痕、缺塊、臟污、印子、污染、缺件、偏移、歪斜、錯件、破損、刮傷、灰塵、長度、寬度、角度、弧度等缺陷。
 

隨著電子產(chǎn)品的日益復(fù)雜化和制造業(yè)的人工成本越來越高，提高生產(chǎn)率和自動化將是必然的趨勢，能夠提供優(yōu)化的技術(shù)和方案給客戶對臺州振皓的長遠(yuǎn)業(yè)務(wù)發(fā)展至關(guān)重要。