[半導體測試機]
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芯片高低溫測試機應用說明
無錫冠亞芯片高低溫測試機是針對電子元器件行業(yè)測試所推出的,那么,這類芯片高低溫測試機適用于那些行業(yè)呢?
經(jīng)過無錫冠亞的努力,其開發(fā)生產(chǎn)的芯片高低溫測試機TES-4525、TES-4525W、TES-4555、TES-4555W、TES-45A10、TES-45A10W、TES-45A15、TES-45A25W、TES-45A25、TES-45A25W等型號可以用于中小規(guī)模數(shù)字集成電路邏輯功能及靜態(tài)直流參數(shù)測試,在微弱電流測試方面有良好的特性;用于二極管、三極管、VMOS、光電搞合器、可控硅等各種半導體分立器件進行參數(shù)測試,測試原理符合及軍標要求,功率參數(shù)采用300uS脈沖測試,并采用數(shù)據(jù)、圖形雙重顯示。用于普通、極化、時間等各類電磁繼電器參數(shù)的測試,在觸點接觸電阻和時間參數(shù)的測試方面有良好的特性,被我國國軍標電磁繼電器生產(chǎn)線選用。
芯片高低溫測試機通用數(shù)字電路和接口電路的邏輯功能和靜態(tài)直流參數(shù)測試以及通用運算放大器及電壓比較器的靜態(tài)直流參數(shù)測試,在微弱電壓、電流測試方面有良好的性能,適用于低失調(diào)和高阻等相同的測試。芯片高低溫測試機穩(wěn)壓器測試系統(tǒng)用于正壓、負壓、固定、可調(diào)三端集成穩(wěn)壓器參數(shù)的測試,采用四線測試原理,測試夾具全部采用3M公司原裝測試夾具,具有良好的測試精度。芯片高低溫測試機電磁繼電器介質(zhì)耐壓絕緣電阻測試系統(tǒng)用于電磁繼電器介質(zhì)耐壓和絕緣電阻等額的測試,測試貫注符合國軍標要求。
芯片高低溫測試機電子元器件測試系統(tǒng)以其優(yōu)良的軟硬件性能和完善的服務在航天、航空、電子、郵電、半導體、核工業(yè)、兵器等行業(yè)得到廣泛的應用。用戶單位包括從事整機研制和生產(chǎn)的研究所和企業(yè),包括從事半導體器件研制和生產(chǎn)的研究所和企業(yè),包括專業(yè)從事電子元器件測試篩選的測試中心,也包括一些外資公司和企業(yè)。因而創(chuàng)造了良好的經(jīng)濟效益和社會效益。
目前,無錫冠亞利用制冷加熱動態(tài)控溫系統(tǒng)還在針對電子元器件行業(yè)的測試工作不斷開發(fā)芯片高低溫測試機,為我國的電子元器件測試行業(yè)做出發(fā)展。(注:本來部分內(nèi)容來百度學術相關,如果侵權,請及時聯(lián)系我們進行,謝謝。)