英國abi_AT256 A4集成電路測試儀具備二維集成電路*V-I動態(tài)阻抗端口測試通道:256路;二維電路板*V-I

產(chǎn)品內(nèi)容： 英國abi_AT256 A4集成電路測試儀通道配置： 二維集成電路V-I動態(tài)阻抗端口測試通道：256路 二維電路板V-I動態(tài)阻抗端口測試通道：64/128/192/256路（可擴(kuò)充至2048路） 三維掃頻V-I-F動態(tài)阻抗端口測試通道：64/128/192/256路（可擴(kuò)充至2048路） 功能用途： 1）集成電路的來料質(zhì)量控制檢測與篩選、一致性檢測； 2）快速篩選假冒、仿制集成電路及元器件； 3）對不良器件進(jìn)行三維動態(tài)阻抗失效分析； 4）非加電條件下對集成電路、電路板進(jìn)行端口動態(tài)阻抗測試分析； 5）快速準(zhǔn)確定位失效集成電路故障管腳，查找故障電路板的失效I/O管腳； 6）測試可靠，解決器件工藝、電路板工藝問題，快速解決集成電路及電路板故障點定位問題； 7）進(jìn)行集成電路和電路板阻抗一致性檢測； 8）配合測控平臺軟件，實現(xiàn)集成電路、電路板定制化和自定義編程測試。 技術(shù)規(guī)格： 1）256路二維集成電路V-I端口動態(tài)阻抗測試通道； 2）64/128/192/256路二維電路板V-I端口動態(tài)阻抗測試通道； 3）64/128/192/256路V-I-F三維立體動態(tài)阻抗測試通道； 4）4路探筆測試，4路V-T/V-T-F測試通道； 5）顯示圖形模式:V-I, V-T, V-I-F, V-T-F； 6）可定制各種封裝通用集成電路測試治具； 7）可定制各種電路板I/O接口測試治具； 8）系統(tǒng)提供測試自定義報告輸出；中英文測試操作軟件； 9）設(shè)備可以64通道為步進(jìn)擴(kuò)充到2048組測試通道。 英國abi_AT256 A4集成電路測試儀測試原理(V-I曲線測試)： 對元器件的每個管腳施加一個低功率的掃描驅(qū)動信號，產(chǎn)生一個阻抗特征圖，以備對比和存儲。 被測器件和數(shù)據(jù)庫中標(biāo)準(zhǔn)動態(tài)阻抗圖相比對，阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。 測試信號可設(shè)定的參數(shù)包括: 電壓、波形、源電阻、頻率?？筛鶕?jù)需要進(jìn)行調(diào)整以便得到準(zhǔn)確的信息。 集成電路測試操作如此簡單: 1.從數(shù)據(jù)庫選擇要測試的集成電路型號. 2.將集成電路插入測試座. 3.執(zhí)行測試 4.得到PASS或FAIL的測試結(jié)果. 不需要電子專業(yè)知識. 適用于所有集成電路/封裝件.及各種類型電路板. 靈活、好安裝、宜操作. 測試結(jié)果直接: PASS或FAIL. 軟件可設(shè)定各種測試條件. 可提供完整的集成電路自定義測試分析報告. 英國ABI-AT256 A4全品種集成電路測試儀適合不同封裝形式的元件: -雙列插腳(DIL) -小型封裝集成集成電路(SOIC) -小型封裝(SSOP, TSOP) -塑料無引線芯片載體封裝(PLCC) -四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP) -球門陣列封裝(BGA) 注意: AT256 A4不受限于只能測試電子集成電路, 也可用于整個電路板的測試。 三維立體V-I-F動態(tài)阻抗端口測試 AT256 A4內(nèi)圖1 AT256 A4測試報告 AT256 A4內(nèi)圖2 北京金三航科技發(fā)展有限公司(英國ABI技術(shù)服務(wù)中心）提供: 集成電路測試儀,集成電路篩選測試儀,元器件篩選測試儀,元器件檢測儀,三維立體動態(tài)阻抗測試儀的使用技術(shù)培訓(xùn)服務(wù),測試程序開發(fā)編譯服務(wù)。 了解詳細(xì)資料請點擊：http：//www.ic168.cn https://www.2468.cn http://www.tester.cn https://www.etool.cn/ https://www.17.com.cn/