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[高溫探針臺(tái) 低溫探針臺(tái) 真空探針臺(tái) 不銹鋼探針臺(tái) 晶圓檢測(cè)探針臺(tái) 微型探針臺(tái) 實(shí)驗(yàn)室探針臺(tái) 手動(dòng)探針臺(tái) 閉循環(huán)探針臺(tái)]
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學(xué)校實(shí)驗(yàn)室微型真空高溫探針臺(tái) 晶圓檢測(cè) 微型真空探針臺(tái) KT-0904探針臺(tái) 實(shí)驗(yàn)室真空探針臺(tái)是一種用來測(cè)量材料表面工作函數(shù)、電阻率、電荷密度乃至自發(fā)電勢(shì)等表面電學(xué)性質(zhì)的實(shí)驗(yàn)儀器。它是在真空環(huán)境下進(jìn)行的,以避免氣體分子對(duì)電性能測(cè)試的影響。真空探針臺(tái)通過控制電勢(shì)差和電流等參數(shù),將電子注入材料表面,通過測(cè)量電子的能譜來計(jì)算所需的參數(shù)。真空探針臺(tái)在材料科學(xué)、電子工程、以及半導(dǎo)體領(lǐng)域等有廣泛的應(yīng)用。 微型真空探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本 微型真空探針臺(tái)的承片臺(tái)X/Y/Z三個(gè)方向均可在真空環(huán)境下調(diào)節(jié),其中X方向調(diào)節(jié)范圍:0-30mm;y方向調(diào)節(jié)范圍:0-13mm;z方向調(diào)節(jié)范圍:0-13mm;用戶可根據(jù)需要自行調(diào)節(jié)。使用時(shí)將需檢測(cè)的器件固定在加熱臺(tái)上,再微調(diào)探針支架X/Y/Z 方向行程,通過顯微鏡觀察,使探針對(duì)準(zhǔn)檢測(cè)點(diǎn)后,即可進(jìn)行檢測(cè)。
注冊(cè)資金:100萬以下
聯(lián)系人:孟工
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