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產(chǎn)品名稱:瑞士丹青Compact WLI白光干涉微觀形貌及粗糙度儀 車間工廠 實驗室
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產(chǎn)品詳情
瑞士丹青Compact WLI白光干涉微觀形貌及粗糙度儀是用于記錄3D形貌光學測量技術(shù),其分辨率高達納米級。測量點平行采集和處理,大面積的高度信息可以在很短時間內(nèi)采集。研究和質(zhì)量管理過程中的典型應用有:物體表面的不同粗糙度特性(晶圓結(jié)構(gòu)、鏡面、玻璃、金屬等)、確定高度變化以及曲面的精密測量(如微透鏡等)。
WLI白光干涉?zhèn)鞲衅魈攸c:
◆直接3D測量
◆非??焖?br /> ◆高精度,分辨率0.1nm
◆2.5x~100x干涉鏡頭
◆50x以上干涉鏡頭用于高反射表面
◆集成拼接功能
◆測量范圍400?m
◆適用于所有材料
◆高速壓電陶瓷Z軸
◆2百萬或5百萬像素攝像頭(根據(jù)測量需求配置)
◆Trimos提供基于WLI技術(shù)的解決方案并通過Trimos Nanoware測量軟件對整個測量過程進行控制和分析。
◆Trimos在本領(lǐng)域進行了廣泛的研究并積累了豐富的經(jīng)驗,因而能提供、穩(wěn)定、的分析算法。

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