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| 產(chǎn)品標(biāo)題 | 熒光分光光度計 | ||
| 型號 | ST.74-SETWE | ||
| 圖片 | ![]() | ||
| 簡介 | 主要特點: 波長掃描 波長掃描功能主要包括熒光強度和發(fā)光強度兩種數(shù)據(jù)模式。通過熒光強度數(shù)據(jù)模式可以得到樣品的激發(fā)光譜和熒光光譜,是一種比較常用的方法。 時間掃描 時間掃描是在規(guī)定的時間間隔內(nèi)采集被測樣品的熒光強度隨時間變化曲線??梢杂脕肀O(jiān)測被測樣品的物理化學(xué)變化,動力學(xué)法可被執(zhí)行。 光度值法 使用波長法進行定量,高達20個標(biāo)準(zhǔn)樣品能被測量,通過標(biāo)準(zhǔn)濃度的每個點來繪制多邊形標(biāo)準(zhǔn)曲線,回歸標(biāo)準(zhǔn)曲線的制備可使用一次、二次、三次方的曲線或折線,同時可獲得其相關(guān)系數(shù)R及R2。 三維掃描 可以得到三維圖、等高線圖,快速進行未知樣品熒光峰位的測定。 強大的圖譜處理功能 兩個譜圖可進行加、減、乘、除運算,也可以計算譜圖面積;具有光譜校正和快門控制等。 | ||
注冊資金:100萬以下
聯(lián)系人:崔經(jīng)理
固話:010-57173682/57173683/57220958
移動手機:15811387398
企業(yè)地址:北京市 北京市