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供應硅片缺陷觀測儀

北京市硅片缺陷觀測儀廠家

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產(chǎn)品標題	硅片缺陷觀測儀
型號	SY.29-WDI
圖片
簡介	硅片缺陷觀測儀于對硅片的缺陷進行觀察，效果非常明顯，包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等。實時對圖像進行分析、測量和統(tǒng)計，提高傳統(tǒng)光學儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設備，能更好的觀測和保存研究結(jié)果；硅片缺陷觀測儀-產(chǎn)品特點 ■ 適用于對硅片的缺陷觀察效果，非常明顯，包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等； ■ 使硅片缺陷觀察工作簡單化，準確化，同時極大程度降低此項工作強度； ■ 實時對圖像進行分析、測量和統(tǒng)計，提高傳統(tǒng)光學儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設備，能更好的觀測和保存研究結(jié)果； ■ 使用 1/2"CMOS 感光芯片，具有體積小，技術(shù)，像素較高，成像清晰、線條細膩、色彩豐富； ■ 傳輸接口為 USB2.0 高速接口，軟件模塊化設計； ■ 有效分辨率為 200 萬像素； ■ 所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統(tǒng)。