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供應(yīng)半導(dǎo)體模塊老化測(cè)試夾

揚(yáng)州市半導(dǎo)體模塊廠家

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半導(dǎo)體模塊老化測(cè)試夾具該系列夾具適用于C2型半導(dǎo)體模塊的老化、測(cè)試、篩選及可靠性試驗(yàn)作連接之用。產(chǎn)品廣泛運(yùn)用于航空航天、、科研院所、電子、通訊. 產(chǎn)品規(guī)格型號(hào)：C2型主要技術(shù)指標(biāo)；適應(yīng)環(huán)境溫度；-55℃—+155℃ 工作電壓；DC1200V 探針金層厚度；4umAu:lu(鎳金）標(biāo)簽：揚(yáng)州市半導(dǎo)體模塊揚(yáng)州市半導(dǎo)體模塊廠家