利用 X射線或γ射線在穿透被檢物各部分時(shí)強(qiáng)度衰減的不同,檢測被檢物中缺陷的一種無損檢測方法。
原理:被測物體各部分的厚度或密度因缺陷的存在而有所不同。當(dāng)X射線或
γ射線在穿透被檢物時(shí),射線被吸收的程度也將不同。若射線的原始強(qiáng)度為
,通過線吸收系數(shù)為
μ的、厚度為
t的材料后,強(qiáng)度因被吸收而衰減為
,其關(guān)系為
。若將受到不同程度吸收的射線投射在X射線膠片上,經(jīng)顯影后可得到顯示物體厚度變化和內(nèi)部缺陷情況的照片(X射線底片)。這種方法稱為X射線照相法。如用熒光屏代替膠片直接觀察被檢物體,稱為法。如用光敏元件逐點(diǎn)測定透過后的射線強(qiáng)度而加以記錄或顯示,則稱為儀器測定法。
射線探傷(x、γ)方法介紹
工業(yè)上常用的射線探傷方法為X射線探傷和γ射線探傷。指使用電磁波對金屬工件進(jìn)行檢測,同X線類似。射線穿過材料到達(dá)底片,會使底片均勻感光;如果遇到裂縫、洞孔以及夾渣等缺陷,一般將會在底片上顯示出暗影區(qū)來。這種方法能檢測出缺陷的大小和形狀,還能測定材料的厚度。
X 射線是在高真空狀態(tài)下用高速電子沖擊陽極靶而產(chǎn)生的。γ射線是放射性同位素在原子蛻變過程中放射出來的。兩者都是具有高穿透力、波長很短的電磁波。不同厚度的物體需要用不同能量的射線來穿透,因此要分別采用不同的射線源。例如由X射線管發(fā)出的X射線(當(dāng)電子的加速電壓為400千伏時(shí)),放射性同位素60Co所產(chǎn)生的γ射線和由 20兆電子伏直線加速器所產(chǎn)生的X射線,能穿透的鋼材厚度分別約為90毫米、230毫米和600毫米。
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