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供應元素檢測儀

上海市元素檢測儀廠家

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詳細信息（供應元素檢測儀）

Ｘ射線熒光分析裝置是使用Ｘ射線照射樣品，對產(chǎn)生的熒光Ｘ射線的能量進行檢測，測定構(gòu)成樣品的元素種類及含量的裝置。可無損地進行固體、粉體、液體、磁盤、單晶片等的元素分析，廣泛應用于各個領域。特別是最近，以歐盟的報廢電子電氣設備指令（WEEE）、電子電氣設備所含特定有害物質(zhì)限制使用指令（RoHS）、報廢汽車指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法規(guī)為代表的綠色采購及環(huán)境分析之中，要求更為微量、更為迅速的分析。
為滿足這種需求，*的EDX系列達到了更高的靈敏度與精度。
更高靈敏度的新型能量色散型X射線熒光分析裝置！
在所有機型上配備全新的測定，解析功能！追求更高的分析精度。
標準配備從薄膜分析到有機分析的定量分析軟件。
標準配備無需標準樣品的含量匹配軟件。
標準配備實現(xiàn)高靈敏度分析的5種濾光片?？商岣呗?Cl)、*(Cd)等的檢測靈敏度。
結(jié)構(gòu)緊湊的臺式機，主機尺寸為W580×D650×H420mm。
樣品圖像觀察采用CCD裝置，便于觀察樣品位置。特別有助于確認微小部分的分析位置。
技術指標
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99%
同時分析元素：24種元素同時分析
測量鍍層：鍍層厚度最薄至0.005微米，可分析3層以上的鍍層
分析精度：0.05%
測量時間：60s-200s
能量分辨率為：（150±5）eV
管壓：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
標準配置
鹵素測試X光管
S100探測器
信噪比增強器 SNE
鹵族測試配件
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
標簽：上海市元素檢測儀上海市元素檢測儀廠家