供應(yīng)廣州提供表面異物分析出具專業(yè)報(bào)告FTIR測(cè)試方法測(cè)試報(bào)價(jià)
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采用的方法有:FTIR,SEM,XPS等等,公司在深圳觀瀾,歡迎廣大客戶現(xiàn)場(chǎng)指導(dǎo)工作。
表面異物分析
在生產(chǎn)使用過程中,產(chǎn)品表面往往容易被污染、腐蝕、氧化,形成其他異物,一般很難用肉眼分辨,更無法了解其成分與來源,必須通過顯微途徑觀察分析。中心配備有顯微紅外、放大倍數(shù)從10倍-20萬倍的掃描電子顯微鏡和對(duì)固體樣品元素價(jià)態(tài)分析的X射線光電子能譜,可以分別對(duì)不同現(xiàn)象和類別的異物進(jìn)行分析。掃描電子顯微鏡可在分子尺度,對(duì)材料微觀形貌進(jìn)行直接觀測(cè),同時(shí)對(duì)微小區(qū)域進(jìn)行X射線能譜測(cè)試,分析其成分組成,X射線光電子能譜能夠?qū)腆w樣品的元素成分進(jìn)行定性、定量或半定量及價(jià)態(tài)分析,廣泛應(yīng)用于元素分析、多相研究、化合物結(jié)果鑒定、富集法微量元素分析、元素價(jià)態(tài)鑒定等。
主要分析儀器:
顯微/傅里葉紅外光譜儀(FTIR)、掃描電子顯微鏡/X射線能譜儀(SEM/EDS)、X射線光電子能譜儀(XPS)、二次離子質(zhì)譜(SIMS)、X射線衍射儀(XRD)等。
主要測(cè)試項(xiàng)目:
無機(jī)異物分析
有機(jī)異物分析
異物判定
中天檢測(cè)地址:
深圳觀瀾大富工業(yè)區(qū)
標(biāo)簽:
表面異物 FTIR 材料成分
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