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效果圖描述:p選擇Elite(一六儀器)X射線熒光鍍層測(cè)厚儀理由:/ppbr//ppnbsp;nbsp;根據(jù)IPC規(guī)程,必須使用整塊的標(biāo)準(zhǔn)片來(lái)校正儀器,對(duì)于多鍍層的測(cè)量,目前大多數(shù)客戶購(gòu)買(mǎi)的測(cè)厚儀采用的是多種箔片疊加測(cè)量校正,比如測(cè)量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu,因 [詳情] 更多關(guān)于膜厚測(cè)試儀圖片相關(guān)信息 標(biāo)簽:膜厚測(cè)試儀圖片 膜厚測(cè)試儀樣板圖
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