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公司簡介:佰力博科技(Partulab Technology Co. Ltd)(www.partulab.com),位于中國光谷武漢東湖高新技術(shù)開發(fā)區(qū),主要涉及真空、高低溫、磁性、電學測量等領域,是材料物理性能表征和測量行業(yè)領軍品牌。Partulab 一詞,演化自“Pa......
效果圖描述: 高溫半導體材料四探針測量系統(tǒng)主要用于評估半導體薄膜和薄片的導電性能,該系統(tǒng)采用直排四探針測量原理和單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準設計研發(fā),可以實現(xiàn)高溫、真空及惰性氣氛條件下測量硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率...... [詳情] 更多關(guān)于高溫半導體圖片相關(guān)信息 標簽:高溫半導體圖片 半導體材料電阻率測量圖片 高溫半導體樣板圖 半導體材料電阻率測量
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