變頻器用IGBT測(cè)試儀-華科便攜式測(cè)試臺(tái)

產(chǎn)品主要有電力半導(dǎo)體器件、組件、模塊（包括IGBT器件、新型SiC器件、功率晶閘管及功率整流管等）的檢測(cè)及可靠性設(shè)備，電氣自動(dòng)化設(shè)備，電冶、電化學(xué)裝置，電力半導(dǎo)體變流裝置及各種高、中、低頻感應(yīng)加熱電源、感應(yīng)加熱爐，晶閘管高壓閥組、GTO、IGBT、IGCT、MOSFET驅(qū)動(dòng)器、遠(yuǎn)距離光電轉(zhuǎn)換軟件控制系統(tǒng)、光電脈沖觸發(fā)板、IGBT的智能高壓驅(qū)動(dòng)板等。3電流持續(xù)時(shí)間It：10~1000us單個(gè)脈沖或雙脈沖的總時(shí)間。

欲測(cè)知元件老化，變頻器用IGBT測(cè)試儀，所須提供的測(cè)量范圍為何？當(dāng)大功率元件在作導(dǎo)通參數(shù)的測(cè)試時(shí)，電流必須大到其所能承受的正常工作值，同時(shí)，在作關(guān)閉參數(shù)的漏電流測(cè)試時(shí)，電壓也必須夠高，以元件在真正工作狀態(tài)下的電流與電壓，變頻器用IGBT測(cè)試儀加工，如此其老化的程度才可顯現(xiàn)。當(dāng)這兩個(gè)參數(shù)通過后，便表示元件基本上良好，再進(jìn)一步作其他參數(shù)的測(cè)量，以分辨其中的優(yōu)劣。建議進(jìn)行高溫測(cè)試，變頻器用IGBT測(cè)試儀現(xiàn)貨供應(yīng)，模擬器件使用工況，更為準(zhǔn)確的判斷器件老化程度。同一測(cè)試條件的器件的測(cè)試曲線可以在軟件內(nèi)進(jìn)行對(duì)比，新測(cè)曲線可以與原測(cè)曲線進(jìn)行對(duì)比。

9、系統(tǒng)保護(hù)功能

9.1 有完備的控制單元，動(dòng)態(tài)測(cè)試設(shè)備有傳感器來保證操作者，設(shè)備任何門被打開均能快速切斷高壓電源。

9.2 有急停按鈕，當(dāng)急停按鈕被按下時(shí)，迅速切斷所有高壓電源。

9.3 系統(tǒng)帶有短路保護(hù)功能，在過載時(shí)迅速斷開高壓高電流。

9.4 操作系統(tǒng)帶有多級(jí)權(quán)限。

9.5 系統(tǒng)應(yīng)配有內(nèi)置ups，變頻器用IGBT測(cè)試儀批發(fā)，保證計(jì)算機(jī)系統(tǒng)在電網(wǎng)短時(shí)間掉電情況下，為系統(tǒng)供電0.5小時(shí)以上，確保系統(tǒng)及數(shù)據(jù)。

10、樣品夾具

10.1 有通用測(cè)試夾具。

10.2 帶有62mm封裝測(cè)試夾具

10.3 帶有EconoPACK3封裝測(cè)試夾具

10.4 帶有34mm封裝測(cè)試夾具