高速數(shù)據(jù)采集存儲(chǔ)系統(tǒng)-魯科數(shù)據(jù)公司

高速數(shù)據(jù)采集卡在局部放電檢測(cè)中的應(yīng)用

局部放電的檢測(cè)對(duì)于電力設(shè)備運(yùn)行的安全，避免突發(fā)性故障的發(fā)生及其重要。坤馳科技的高速數(shù)據(jù)采集卡具備高采樣率、高分辨率、寬帶寬等特點(diǎn)，可以滿足對(duì)放電信號(hào)的實(shí)時(shí)采集與分析，是局部放電檢測(cè)系統(tǒng)的重要組成部分。

內(nèi)部局部放電：在介質(zhì)內(nèi)部或介質(zhì)與電極之間的氣隙放電，都屬于內(nèi)部局部放電。放電的特性與介質(zhì)的特性和氣隙的形狀、大小、位置以及氣隙中氣體的性質(zhì)有關(guān)。氣泡壁四周都為介質(zhì)。

表面局部放電：放電過程與內(nèi)部放電相同，不同為氣泡壁只有一邊為介質(zhì)，另一邊為導(dǎo)體。

氣暈放電：發(fā)生在 導(dǎo)體周圍都是氣體的情況下

高速數(shù)據(jù)采集方式和PCIe總線的高速數(shù)據(jù)采集卡應(yīng)是局放監(jiān)測(cè)系統(tǒng)在硬件上的發(fā)展趨勢(shì)，這種配置方式有利于局放信號(hào)的實(shí)時(shí)顯示與分析，高速數(shù)據(jù)采集存儲(chǔ)系統(tǒng)，從而有利于對(duì)局放的信號(hào)特點(diǎn)和機(jī)理作進(jìn)一步研究。

采集卡的抗干擾問題

以下是魯科數(shù)據(jù)為您一起分享的內(nèi)容，魯科數(shù)據(jù)專業(yè)生產(chǎn)高速數(shù)據(jù)采集板卡，歡迎新老客戶蒞臨。

高速數(shù)據(jù)采集卡可能引進(jìn)噪音，主要包括來自周圍電子器件的隨機(jī)干擾、與激光器發(fā)射相關(guān)的電磁干擾和本底基線偏移。本底基線指激光雷達(dá)系統(tǒng)的暗背景測(cè)量基線，理想情形它是一條水平直線?？墒窃趯?shí)際系統(tǒng)中經(jīng)常觀察到起點(diǎn)偏移，我們稱本底基線偏移。這種偏移很小，但是它不穩(wěn)定，高速數(shù)據(jù)采集存儲(chǔ)系統(tǒng)廠家，它與真實(shí)的信號(hào)重疊在一起成為測(cè)量誤差。為了能探測(cè)到污染分子的存在，必須很大的提高系統(tǒng)靈敏度，通常要把激光測(cè)量重復(fù)幾千次甚至幾萬次以提高信噪比。同時(shí)必須盡量的減小各種干擾，包括這種基線偏移。

實(shí)驗(yàn)證明，減小外觸發(fā)信號(hào)可以減小本底基線偏移；說明基線偏移的一個(gè)重要來源是外觸發(fā)電壓。其產(chǎn)生的原因可能是板卡設(shè)計(jì)上的缺陷，外觸發(fā)信號(hào)的一部分經(jīng)過分布電容耦合到了信號(hào)輸入端?；€偏移的另一個(gè)重要來源是激光高壓放電脈沖干擾，高速數(shù)據(jù)采集存儲(chǔ)系統(tǒng)生產(chǎn)廠家，它很不穩(wěn)定，與接線情況，地線好壞，板卡設(shè)計(jì)，溫度濕度等都有關(guān)系。

數(shù)據(jù)采集卡的優(yōu)勢(shì)

*  基于多種接入總線接口的設(shè)備，適用于客戶的不同需求。

*  功能接口豐富， 為客戶提供了多種測(cè)量的解決方法。

*  可提供多種速率的采集卡，更好的適應(yīng)客戶的需求。

*  可提供高分辨率的設(shè)備，高速數(shù)據(jù)采集存儲(chǔ)系統(tǒng)多少錢，可為客戶提供高精度的采集產(chǎn)品。

*  可根據(jù)用戶的實(shí)際要求進(jìn)行小規(guī)模的定制。

*  基于LabVIEW工程測(cè)試軟件基礎(chǔ)上開發(fā)的測(cè)試軟件，使用方便，靈活，形象，可更好的反應(yīng)測(cè)量的結(jié)果。