crystal晶體諧振器-凱擎koan

KOAN 晶體采用不同大小激勵功率測試以提高穩(wěn)定性

弛豫效應(yīng)：加在晶片上的機(jī)械應(yīng)力隨時間的推移而松弛時，會引起頻率的漂移，因此要選擇合適的激勵功率，crystal晶體諧振器價格，使晶片的自身應(yīng)力和電極施于晶片的應(yīng)力發(fā)生變化，應(yīng)力的變化又導(dǎo)致因應(yīng)力弛豫效應(yīng)引起的老化速率發(fā)生變化。另外，激勵功率變化，將引起晶片振幅的變化，從而改變晶片上質(zhì)量遷移引起的老化速率，可能抵消兩種老化速率。

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石英晶振哪個應(yīng)用環(huán)節(jié)容易造成問題

首先，由于晶體的設(shè)計(jì)加工水平差異以及客戶端外圍電路雜散電容難以確定，一定程度上增加了匹配難度。不同的頻率器件，電性能參數(shù)都有不同，以及不能根據(jù)不同客戶產(chǎn)品差異化需求的匹配判斷，都可能造成工作不穩(wěn)定。另外，客戶端產(chǎn)品裝配環(huán)節(jié)，如何規(guī)范 SMT 貼裝和手工焊接工藝，不造成損傷晶振，也直接影響電子產(chǎn)品的穩(wěn)定性。

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KOAN 晶振的電性能參數(shù)

KOAN 晶體諧振器的靜態(tài)電容 C0 和動態(tài)電容 C1 概念： 靜態(tài)電容 C0 是晶體兩引腳之間的電容，是以水晶為介質(zhì)，crystal晶體諧振器，由兩個金屬電極形成的電容，與晶片電極面積（或者晶體體積）大小和頻率大小成正比。容 動態(tài)電容 C1： ：表征振動能力，與晶片電極面積（或者晶體體積）和頻率大小成正比。

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