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14)工控機及操作系統(tǒng)
用于控制及數(shù)據(jù)處理,采用定制化系統(tǒng),地鐵IGBT測試儀批發(fā),主要技術(shù)參數(shù)要求如下:
?機箱:4Μ 15槽上架式機箱;
?支持ATX母板;
?CPΜ:INTEL雙核;
?主板:研華SIMB;
?硬盤:1TB;內(nèi)存4G;
?3個5.25”和1個3.5”外部驅(qū)動器;
?集成VGA顯示接口、4個PCI接口、6個串口、6個ΜSB接口等。
?PLC邏輯控制
15)數(shù)據(jù)采集與處理單元
用于數(shù)據(jù)采集及數(shù)據(jù)處理,地鐵IGBT測試儀加工,主要技術(shù)參數(shù)要求如下:
?示波器;高壓探頭:滿足表格4-11動態(tài)參數(shù)、短路電流、安全工作區(qū)測試需求
?電流探頭:滿足表格4-11動態(tài)參數(shù)、短路電流、安全工作區(qū)測試需求
?狀態(tài)監(jiān)測:NI數(shù)據(jù)采集卡
?上位機:基于Labview人機界面
?數(shù)據(jù)提?。簻y試數(shù)據(jù)可存儲為Excel文件及其他用戶需要的任何數(shù)據(jù)格式,特別是動態(tài)測試波形可存儲為數(shù)據(jù)格式;所檢測數(shù)據(jù)可傳遞至上位機處理;從檢測部分傳輸?shù)臄?shù)據(jù)經(jīng)上位機處理后可自動列表顯示相應(yīng)測試數(shù)據(jù);?數(shù)據(jù)處理和狀態(tài)檢測部分內(nèi)容可擴展

3.6VCES集射極截止電壓0~5000V集電極電流ICES:0.01~1mA±3%±0.001mA;大功率Igbt模塊測試系統(tǒng)簡介我公司所設(shè)計生產(chǎn)的半導(dǎo)體元件自動測試系統(tǒng)具備下列測試能力:☆可單機獨立操作,測試范圍達2000V及50A。1~10mA±2%±0.01mA;10~50mA±1%±0.1mA;集電極電壓VCES:0-5000V±1.5%±2V;*3.7 ICES集射極截止電流0.01~50mA集電極電壓VCES:50~500V±2%±1V;500~5000V±1.5%±2V;集電極電流ICES:0.001~1mA±3%±0.001mA;1~10mA±2%±0.01mA;10~150mA±1%±0.1mA;*3.8VCE(sat)飽和導(dǎo)通壓降0.001~10V集電極電流ICE:0-1600A集電極電壓VCEs:0.001~10V±0.5%±0.001V柵極電壓Vge:5~40V±1%±0.01V集電極電流ICE:0~100A±1%±1A;100~1600A±2%±2A;*3.9Iges柵極漏電流0.01~10μA柵極漏電流IGEs:0.01~10μA±2%±0.005μA柵極電壓Vge:±1V~40V±1%±0.1V;Vce=0V;*3.10VF正向特性測試0.1~5V二極管導(dǎo)通電壓Vf:0.1~5V±1%±0.01V電流IF:0~100A±2%±1A;100~1600A±1.5%±2A;

13)被測器件旁路開關(guān)被測安全接地開關(guān),地鐵IGBT測試儀,設(shè)備不運行時,被測接地。凡是半導(dǎo)體元件如金屬氧化場效晶體管(MOSFET)、IGBT(INSULATEDGATEB。?電流能力DC 50A?隔離耐壓15kV?響應(yīng)時間150ms?工作方式氣動控制?工作氣壓0.4MPa?工作溫度室溫~40℃?工作濕度<70%14)工控機及操作系統(tǒng)用于控制及數(shù)據(jù)處理,采用定制化系統(tǒng),主要技術(shù)參數(shù)要求如下:?機箱:4Μ 15槽上架式機箱;?支持ATX母板;?CPΜ:INTEL雙核;?主板:研華SIMB;?硬盤:1TB;內(nèi)存4G;?3個5.25”和1個3.5”外部驅(qū)動器;?集成VGA顯示接口、4個PCI接口、6個串口、6個ΜSB接口等。?PLC邏輯控制


注冊資金:500萬
聯(lián)系人:陳少龍
固話:1300-8867918
移動手機:13008867918
企業(yè)地址:廣東 寶安區(qū)