華科檢測用IBGT-高鐵*IGBT測試儀加工

7、測量配置

7.1 示波器：美國泰克新5系混合信號示波器（MSO），帶寬500MHZ，垂直分辨率12位ADC，4通道；

7.2 高速電流探頭；

7.3 高壓差分探頭。

8、測試參數(shù)應(yīng)包括

8.1 開通：turn on (tdon ， tr ，風(fēng)力發(fā)電用IGBT測試儀加工， di/dt ，IGBT測試儀加工， Ipeak ，新能源汽車IGBT測試儀加工， Eon ， Pon )；

8.2 關(guān)斷：turn off (tdoff ，高鐵IGBT測試儀加工， tf ， Eoff ， Ic ， Poff)；

8.3 反向恢復(fù) (Irr，Trr，di/dt，Qrr，Erec)；

8.4 柵電荷：采用恒流驅(qū)動，電流可調(diào)范圍：0～100mA；

8.5 短路（1200Ａmax）；

8.6 雪崩；

8.7 NTC(模塊)測試：0-20KΩ；

8.8 主要測試參數(shù)精度偏差 ：< 3 % 。

其中：Vcc 試驗電壓源±VGG 柵極電壓C1 箝位電容Q1 陪測器件（實際起作用的是器件中的續(xù)流二極管）L 負(fù)載電感 ：100uH、200uH、500uH、1000uH自動切換IC 集電極電流取樣電流傳感器DUT 被測器件關(guān)斷時間采用單脈沖測試，由計算機設(shè)定并控制輸出集電極電壓VCC值到被測器件的測試要求值（一般為被測器件額定電壓的1/2），設(shè)定±VGG到測試要求值，開關(guān)被測器件DUT一次，被測器件的開沖持續(xù)時間必須保證DUT完全飽和，同時監(jiān)測集電極電流IC、柵極-發(fā)射極電壓VGE和集電極-發(fā)射極電壓VCE，記錄下被測器件IC、VCE以及VGE的波形，其中，VCE采樣到示波器的CH1通道，IC取樣到示波器的CH2通道，VGE采樣到示波器的CH3通道，示波器通過光通訊方式將測試波形傳輸給計算機，由計算機對測試波形進行分析與計算，后顯示測試結(jié)果。IGBT模塊VCE-IC特線（單管），Vcesat隨電流變大而增大。

大功率半導(dǎo)體器件為何有老化的問題？

任何產(chǎn)品都有設(shè)計使用壽命，同一種產(chǎn)品不同的使用環(huán)境和是否得到相應(yīng)的維護，延長產(chǎn)品使用壽命和設(shè)備良好運行具有極為重要。功率元件由于經(jīng)常有大電流往復(fù)的沖擊，對半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)均具有一定的耗損性及破壞性，若其工作狀況又經(jīng)常在其安全工作區(qū)的邊緣，更會加速元件的老化程度，故元件老化，就如人的老化一樣是不可避免的問題。測試工作電壓：10kV（整體設(shè)備滿足GB19517—2009標(biāo)準(zhǔn)外，局部絕緣電壓應(yīng)滿足測試需求）18）其他輔件。