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功能測(cè)試治具是用來(lái)成品、半成品在生產(chǎn)夫妻節(jié)中的某一個(gè)工序,以此來(lái)判斷來(lái)測(cè)試的對(duì)角是否達(dá)到我們開(kāi)始預(yù)計(jì)的目標(biāo),可以減少產(chǎn)品的損壞率,功能測(cè)試治具應(yīng)用于模擬、數(shù)字、存儲(chǔ)器、RF和電源電路,針對(duì)每一形式需要相對(duì)應(yīng)的功能測(cè)試治具。
功能測(cè)試治具能夠檢測(cè)大量實(shí)際重要功能通路及結(jié)構(gòu)驗(yàn)證,確定沒(méi)有硬件錯(cuò)誤,以彌補(bǔ)前面測(cè)試過(guò)程遺漏的部分。這需要將大量模擬/數(shù)字激勵(lì)不斷加到被測(cè)單元(UUT)上,同時(shí)監(jiān)測(cè)同樣多數(shù)量的模擬/數(shù)字響應(yīng),并完全控制其執(zhí)行過(guò)程。
功能測(cè)試治具可在產(chǎn)品制造生命周期不同階段應(yīng)用,首先是工程開(kāi)發(fā)階段,在系統(tǒng)生產(chǎn)驗(yàn)證前確認(rèn)新產(chǎn)品功能;然后在生產(chǎn)中也是必須的,作為整個(gè)流程的一部分,通過(guò)昂貴的系統(tǒng)測(cè)試降低缺陷發(fā)現(xiàn)成本(遺漏成本);后,在發(fā)貨付運(yùn)階段也是不可缺少的,它可以減少在應(yīng)用現(xiàn)場(chǎng)維修的費(fèi)用,保證功能正常而不會(huì)被送回來(lái)。
ICT測(cè)試治具的通用功能:
ICT測(cè)試治具能夠在前期找出制作程序不良所在,例如線(xiàn)路短路、斷路、反向、錯(cuò)件等不良問(wèn)題,治具價(jià)值,能及時(shí)做出改進(jìn)。
ICT測(cè)試治具能夠在短時(shí)間內(nèi),全部檢出組裝電路板上的零件:電阻、電容、電感、電晶體等,是否在我們的設(shè)計(jì)的規(guī)格內(nèi)進(jìn)行動(dòng)作。
ICT測(cè)試治具能夠?qū)⑸厦嫠墓收弦杂”頇C(jī)印出測(cè)試結(jié)果,不管是故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值等提供給維修人員參考,可以大大地降低產(chǎn)品對(duì)技術(shù)的依賴(lài)度。
ICT測(cè)試治具能夠?qū)y(cè)試不良資訊統(tǒng)計(jì),生產(chǎn)管理人員加以分析,可以找出各種不良的產(chǎn)生原因,包括人為的因素在內(nèi),使之各個(gè)解決、完善、指正,藉以提升電路板制造及品質(zhì)能力。

導(dǎo)致檢測(cè)治具的測(cè)試值偏差的原因:
1、首先產(chǎn)生比較大的偏差情況,我們首先要檢查一下測(cè)試治具器件,很有可能是測(cè)試測(cè)試器件壞掉了。
2、還有可能是測(cè)試治具的測(cè)試針壞掉,主要是看與該針相連的器件是否都超差比較大。
3、測(cè)試點(diǎn)上有松香等絕緣物品,這些物品的存在也會(huì)導(dǎo)致檢測(cè)的結(jié)果出現(xiàn)偏差。
4、PCB上銅箔斷裂,治具的測(cè)試值偏差超差比較大,或Viol與銅箔之間Open。
5、測(cè)試治具上有錯(cuò)件、漏件、反裝等現(xiàn)象也會(huì)導(dǎo)致檢測(cè)結(jié)果出現(xiàn)偏差。
6、測(cè)試治具上器件焊接觸不良的情況會(huì)有可能使得檢測(cè)結(jié)果有偏差。

注冊(cè)資金:200萬(wàn)元整
聯(lián)系人:夏經(jīng)理
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