Bruker探針式表面輪廓儀/臺階儀DektakXT表面輪廓/薄膜厚度/應(yīng)力/粗糙度等測量系統(tǒng)

Bruker探針式表面輪廓儀/臺階儀DektakXT表面輪廓/薄膜厚度/應(yīng)力/粗糙度等測量系統(tǒng)


布魯克 (Bruker) 是表面測量和檢測技術(shù)的，服務(wù)于科研和生產(chǎn)領(lǐng)域。布魯克DektakXT （探針式表面輪廓儀）設(shè)計創(chuàng)新，實現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性<5。這一產(chǎn)品源自于Dektak系列占據(jù)長達四十年的表面測量技術(shù)，實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量。


應(yīng)用：
納米尺度的表面輪廓測量、薄膜厚度測量、表面形貌測量、應(yīng)力測量和平整度等精密測量，應(yīng)用于微電子、半導(dǎo)體、太陽能、高亮度LED、觸摸屏、醫(yī)療、光學(xué)、科學(xué)研究和材料科學(xué)領(lǐng)域
原理：
當(dāng)觸針沿被測表面輕輕滑過時，由于表面有微小的峰谷使觸針在滑行的同時，還沿峰谷作上下運動。觸針的運動情況就反映了表面輪廓的情況。傳感器輸出的電信號經(jīng)測量電橋后，輸出與觸針偏離平衡位置的位移成正比的調(diào)幅信號。經(jīng)放大與相敏整流后，可將位移信號從調(diào)幅信號中解調(diào)出來，得到放大了的與觸針位移成正比的緩慢變化信號。再經(jīng)噪音濾波器、波度濾波器進一步濾去調(diào)制頻率與外界干擾信號以及波度等因素對粗糙度測量的影響。
根據(jù)使用傳感器的不同，接觸式臺階測量可以分為電感式、壓電式和光電式3種。


特征：
臺階高度重復(fù)性優(yōu)于5埃（<5 ）
單拱龍門式設(shè)計實現(xiàn)了突破性的掃描穩(wěn)定性
“智能化電子器件”實現(xiàn)了低噪聲的


操作簡便，易用
直觀化的Vision64TM軟件簡化了用戶界面的操作過程
獨特的傳感器設(shè)計使得在單一平臺上即可實現(xiàn)超微力和較大的力測量
自對準(zhǔn)的探針設(shè)計使用戶可以輕而易舉地更換探針

標(biāo)簽：     北京市表面輪廓儀   北京市表面輪廓儀廠家