東莞二手ICT在線測(cè)試儀 JET300NT

JET-300在線測(cè)試機(jī)(IN CIRCUIT TESTER)是經(jīng)由量測(cè)*路板上所有零件,包括*阻、*容、*感、二*體、*晶體、FET、SCR、LED 和IC等, 檢測(cè)出*路板產(chǎn)品的各*缺*諸如 : 線路短路、*路、缺件、錯(cuò)件、零件不良或*配不良等, 並明確地指出缺*的所在位置, *助使用者確保產(chǎn)品的品*, 並提高不良品檢修效率. 它*率先使用可用數(shù)*次開*的磁簧式**器(REED RELAY), 是*今測(cè)試涵*率, 測(cè)試最*定, 使用最方便, 提供資料最*全的在線測(cè)試機(jī).

以下是JET-300的產(chǎn)品特性
硬*規(guī)格
REED RELAY的*描板

JET-300的*描板採(cǎi)用了可耐用二*次的REED RELAY，*底解決了ICT *描板容易損*的問(wèn)題, 由於REED RELAY 的*用，使JET-300在性能上大有改善。諸如：
1.Zener diode 測(cè)試**可達(dá)50v，所有測(cè)試*皆可使用。 
2.小*容和小*感量測(cè)較*確和*定，較不受溫度的影*。 
3.*容*性的可偵測(cè)率較用CMOS RELAY*大為提高。 
4.可耐高*又有殘存**偵測(cè)功能，*描板受到充分的保*。 
5.配置功能測(cè)試的可行性較高。

Agilent TestJet Technology
美*安捷倫公司針*SMD IC接腳開路*以完整偵測(cè)的問(wèn)題，成功的研*出Agilent TestJet Technology的技*以因*。本公司在取得安捷倫公司的*利授**，已於JET-300 ICT 系統(tǒng)上配*了此技*，大幅提升了數(shù)位*路板的可偵測(cè)率。**主機(jī)板、介面卡或傳真機(jī)、數(shù)*機(jī)的機(jī)板皆可得到滿意的測(cè)試效果。其*用上的**如下：

1.Agilent TestJet Technology的功能是利用量測(cè)一*銅箔板*IC腳框(Frame) 之間的*容量*偵測(cè)接腳的*路*否。此技**需撰*任何程式，即可做正確而迅速的測(cè)試。

2.Agilent TestJet Technology可測(cè)試各*不同包*的IC, 如 Insertion type，PLCC type，QFP type，TAB type，PGA type (*接地者)，BGA type (OMPAC)等都可測(cè)試。

3.Agilent TestJet Technology也可用*偵測(cè)各*插座的接腳*路，不論是Insertion type或是 SMD type皆可偵測(cè)。

寬頻而*確的相位分*量測(cè)法
*於在RC或RL並**路中的R.L.C. 可用相位測(cè)量法，分別量出其零件值，由於信*源頻率寬*(100Hz到1MHz)，因此可以偵測(cè)的*圍*於一般的ICT，像下*線路中的零件都可以*確量測(cè)。

三端*、四端*量測(cè)
JET-300可*三端*的零件如 TRANSISTOR，DIGITAL TRANSISTOR，F(xiàn)ET，SCR等?；蛩亩?零件如 PHOTO COUPLER，做正確的測(cè)試，如有反插或零件損*，必可測(cè)出。TRANSISTOR的β值也可量測(cè)。

*解*容*性測(cè)試
以三端*法偵測(cè)鋁**解*容*性反插，可測(cè)率；以測(cè)漏*流方式偵測(cè)*解*容*性反插，可測(cè)率*高。

軟*系統(tǒng)　
JET-300*有超越一般ICT的軟體功能，*論是在測(cè)試前的程式*作支援軟體, 或是測(cè)試*的不良資訊和資料分析，都有高水*的表現(xiàn)。在微軟中文視窗*境下*行的系統(tǒng)程式，操作容易，功能強(qiáng)大。

最差零件(焊*)排行榜
系統(tǒng)可列印出不良數(shù)最多的零件(名)和不良次數(shù)最多的焊*( *)供*商做品*控制或*程改善的*考。

測(cè)試資料統(tǒng)計(jì)的日*表和月*表
*表上半的***用以*示*月份每日累*OPEN/SHORT，零件不良率及整*測(cè)試的可接受率。*表的下半派*用以清楚明*地*示*日各不良原因的百分比。

*路即**控系統(tǒng)
如果把多臺(tái)ICT連到內(nèi)部*路系統(tǒng) ，則每一臺(tái)ICT的測(cè)試統(tǒng)計(jì)資料都可以在*路上的任何一臺(tái)**上*示，管理者可以很方便地**查看生產(chǎn)線的*況。

*路錯(cuò)誤訊息查詢系統(tǒng)
只要把ICT 和檢修站都連到內(nèi)部*路系統(tǒng), 則在檢修站就可以檢視到不良板的所有錯(cuò)誤訊息，包括：打印機(jī)的印出訊息和錯(cuò)誤*形*示。

待測(cè)板*形*示功能
可在待測(cè)板不良*生*，明白*示不良零件或焊*的位置，亦可在零件位置查詢**示零件的位置，此功能可大大縮短不良品檢修的*間和程式調(diào)*的*間。如果*內(nèi)有*路連線系統(tǒng)，則此*形亦可在維修站的螢?zāi)簧?示出*。

 
 系統(tǒng)性能 
  JET-300在線測(cè)試機(jī)(IN CIRCUIT TESTER)是經(jīng)由量測(cè)*路板上所有零件,包括*阻、*容、*感、二*體、*晶體、FET、SCR、LED 和IC等, 檢測(cè)出*路板產(chǎn)品的各*缺*諸如 : 線路短路、*路、缺件、錯(cuò)件、零件不良或*配不良等, 並明確地指出缺*的所在位置, *助使用者確保產(chǎn)品的品*, 並提高不良品檢修效率. 它*率先使用可用數(shù)*次開*的磁簧式**器(REED RELAY), 是*今測(cè)試涵*率, 測(cè)試最*定, 使用最方便, 提供資料最*全的在線測(cè)試機(jī).

以下是JET-300的產(chǎn)品特性
硬*規(guī)格
REED RELAY的*描板

JET-300的*描板採(cǎi)用了可耐用二*次的REED RELAY，*底解決了ICT *描板容易損*的問(wèn)題, 由於REED RELAY 的*用，使JET-300在性能上大有改善。諸如：
1.Zener diode 測(cè)試**可達(dá)50v，所有測(cè)試*皆可使用。 
2.小*容和小*感量測(cè)較*確和*定，較不受溫度的影*。 
3.*容*性的可偵測(cè)率較用CMOS RELAY*大為提高。 
4.可耐高*又有殘存**偵測(cè)功能，*描板受到充分的保*。 
5.配置功能測(cè)試的可行性較高。

Agilent TestJet Technology
美*安捷倫公司針*SMD IC接腳開路*以完整偵測(cè)的問(wèn)題，成功的研*出Agilent TestJet Technology的技*以因*。本公司在取得安捷倫公司的*利授**，已於JET-300 ICT 系統(tǒng)上配*了此技*，大幅提升了數(shù)位*路板的可偵測(cè)率。**主機(jī)板、介面卡或傳真機(jī)、數(shù)*機(jī)的機(jī)板皆可得到滿意的測(cè)試效果。其*用上的**如下：

1.Agilent TestJet Technology的功能是利用量測(cè)一*銅箔板*IC腳框(Frame) 之間的*容量*偵測(cè)接腳的*路*否。此技**需撰*任何程式，即可做正確而迅速的測(cè)試。

2.Agilent TestJet Technology可測(cè)試各*不同包*的IC, 如 Insertion type，PLCC type，QFP type，TAB type，PGA type (*接地者)，BGA type (OMPAC)等都可測(cè)試。

3.Agilent TestJet Technology也可用*偵測(cè)各*插座的接腳*路，不論是Insertion type或是 SMD type皆可偵測(cè)。

寬頻而*確的相位分*量測(cè)法
*於在RC或RL並**路中的R.L.C. 可用相位測(cè)量法，分別量出其零件值，由於信*源頻率寬*(100Hz到1MHz)，因此可以偵測(cè)的*圍*於一般的ICT，像下*線路中的零件都可以*確量測(cè)。

三端*、四端*量測(cè)
JET-300可*三端*的零件如 TRANSISTOR，DIGITAL TRANSISTOR，F(xiàn)ET，SCR等?；蛩亩?零件如 PHOTO COUPLER，做正確的測(cè)試，如有反插或零件損*，必可測(cè)出。TRANSISTOR的β值也可量測(cè)。

*解*容*性測(cè)試
以三端*法偵測(cè)鋁**解*容*性反插，可測(cè)率；以測(cè)漏*流方式偵測(cè)*解*容*性反插，可測(cè)率*高。

軟*系統(tǒng)　
JET-300*有超越一般ICT的軟體功能，*論是在測(cè)試前的程式*作支援軟體, 或是測(cè)試*的不良資訊和資料分析，都有高水*的表現(xiàn)。在微軟中文視窗*境下*行的系統(tǒng)程式，操作容易，功能強(qiáng)大。

最差零件(焊*)排行榜
系統(tǒng)可列印出不良數(shù)最多的零件(名)和不良次數(shù)最多的焊*( *)供*商做品*控制或*程改善的*考。

測(cè)試資料統(tǒng)計(jì)的日*表和月*表
*表上半的***用以*示*月份每日累*OPEN/SHORT，零件不良率及整*測(cè)試的可接受率。*表的下半派*用以清楚明*地*示*日各不良原因的百分比。

*路即**控系統(tǒng)
如果把多臺(tái)ICT連到內(nèi)部*路系統(tǒng) ，則每一臺(tái)ICT的測(cè)試統(tǒng)計(jì)資料都可以在*路上的任何一臺(tái)**上*示，管理者可以很方便地**查看生產(chǎn)線的*況。

*路錯(cuò)誤訊息查詢系統(tǒng)
只要把ICT 和檢修站都連到內(nèi)部*路系統(tǒng), 則在檢修站就可以檢視到不良板的所有錯(cuò)誤訊息，包括：打印機(jī)的印出訊息和錯(cuò)誤*形*示。

待測(cè)板*形*示功能
可在待測(cè)板不良*生*，明白*示不良零件或焊*的位置，亦可在零件位置查詢**示零件的位置，此功能可大大縮短不良品檢修的*間和程式調(diào)*的*間。如果*內(nèi)有*路連線系統(tǒng)，則此*形亦可在維修站的螢?zāi)簧?示出*。

 
 系統(tǒng)性能 
  JET-300在線測(cè)試機(jī)(IN CIRCUIT TESTER)是經(jīng)由量測(cè)*路板上所有零件,包括*阻、*容、*感、二*體、*晶體、FET、SCR、LED 和IC等, 檢測(cè)出*路板產(chǎn)品的各*缺*諸如 : 線路短路、*路、缺件、錯(cuò)件、零件不良或*配不良等, 並明確地指出缺*的所在位置, *助使用者確保產(chǎn)品的品*, 並提高不良品檢修效率. 它*率先使用可用數(shù)*次開*的磁簧式**器(REED RELAY), 是*今測(cè)試涵*率, 測(cè)試最*定, 使用最方便, 提供資料最*全的在線測(cè)試機(jī).

以下是JET-300的產(chǎn)品特性
硬*規(guī)格
REED RELAY的*描板

JET-300的*描板採(cǎi)用了可耐用二*次的REED RELAY，*底解決了ICT *描板容易損*的問(wèn)題, 由於REED RELAY 的*用，使JET-300在性能上大有改善。諸如：
1.Zener diode 測(cè)試**可達(dá)50v，所有測(cè)試*皆可使用。 
2.小*容和小*感量測(cè)較*確和*定，較不受溫度的影*。 
3.*容*性的可偵測(cè)率較用CMOS RELAY*大為提高。 
4.可耐高*又有殘存**偵測(cè)功能，*描板受到充分的保*。 
5.配置功能測(cè)試的可行性較高。

Agilent TestJet Technology
美*安捷倫公司針*SMD IC接腳開路*以完整偵測(cè)的問(wèn)題，成功的研*出Agilent TestJet Technology的技*以因*。本公司在取得安捷倫公司的*利授**，已於JET-300 ICT 系統(tǒng)上配*了此技*，大幅提升了數(shù)位*路板的可偵測(cè)率。**主機(jī)板、介面卡或傳真機(jī)、數(shù)*機(jī)的機(jī)板皆可得到滿意的測(cè)試效果。其*用上的**如下：

1.Agilent TestJet Technology的功能是利用量測(cè)一*銅箔板*IC腳框(Frame) 之間的*容量*偵測(cè)接腳的*路*否。此技**需撰*任何程式，即可做正確而迅速的測(cè)試。

2.Agilent TestJet Technology可測(cè)試各*不同包*的IC, 如 Insertion type，PLCC type，QFP type，TAB type，PGA type (*接地者)，BGA type (OMPAC)等都可測(cè)試。

3.Agilent TestJet Technology也可用*偵測(cè)各*插座的接腳*路，不論是Insertion type或是 SMD type皆可偵測(cè)。

寬頻而*確的相位分*量測(cè)法
*於在RC或RL並**路中的R.L.C. 可用相位測(cè)量法，分別量出其零件值，由於信*源頻率寬*(100Hz到1MHz)，因此可以偵測(cè)的*圍*於一般的ICT，像下*線路中的零件都可以*確量測(cè)。

三端*、四端*量測(cè)
JET-300可*三端*的零件如 TRANSISTOR，DIGITAL TRANSISTOR，F(xiàn)ET，SCR等?；蛩亩?零件如 PHOTO COUPLER，做正確的測(cè)試，如有反插或零件損*，必可測(cè)出。TRANSISTOR的β值也可量測(cè)。

*解*容*性測(cè)試
以三端*法偵測(cè)鋁**解*容*性反插，可測(cè)率；以測(cè)漏*流方式偵測(cè)*解*容*性反插，可測(cè)率*高。

軟*系統(tǒng)　
JET-300*有超越一般ICT的軟體功能，*論是在測(cè)試前的程式*作支援軟體, 或是測(cè)試*的不良資訊和資料分析，都有高水*的表現(xiàn)。在微軟中文視窗*境下*行的系統(tǒng)程式，操作容易，功能強(qiáng)大。

最差零件(焊*)排行榜
系統(tǒng)可列印出不良數(shù)最多的零件(名)和不良次數(shù)最多的焊*( *)供*商做品*控制或*程改善的*考。

測(cè)試資料統(tǒng)計(jì)的日*表和月*表
*表上半的***用以*示*月份每日累*OPEN/SHORT，零件不良率及整*測(cè)試的可接受率。*表的下半派*用以清楚明*地*示*日各不良原因的百分比。

*路即**控系統(tǒng)
如果把多臺(tái)ICT連到內(nèi)部*路系統(tǒng) ，則每一臺(tái)ICT的測(cè)試統(tǒng)計(jì)資料都可以在*路上的任何一臺(tái)**上*示，管理者可以很方便地**查看生產(chǎn)線的*況。

*路錯(cuò)誤訊息查詢系統(tǒng)
只要把ICT 和檢修站都連到內(nèi)部*路系統(tǒng), 則在檢修站就可以檢視到不良板的所有錯(cuò)誤訊息，包括：打印機(jī)的印出訊息和錯(cuò)誤*形*示。

待測(cè)板*形*示功能
可在待測(cè)板不良*生*，明白*示不良零件或焊*的位置，亦可在零件位置查詢**示零件的位置，此功能可大大縮短不良品檢修的*間和程式調(diào)*的*間。如果*內(nèi)有*路連線系統(tǒng)，則此*形亦可在維修站的螢?zāi)簧?示出*。可電話咨詢18620023795王先生