CS-4型號 4寸手動(dòng)探針臺 芯片測試 半導(dǎo)體測試探針臺
[探針臺
4英寸探針臺
測試探針臺]
深圳市型號寸手動(dòng)探針臺廠家
價(jià)格： 電議
物流： 廣東 深圳市 寶安區(qū)| 賣家支付運(yùn)費(fèi)
可銷售總量： 10件
手機(jī)： 18890189035 郵箱： wumq@cindbest.com
傳真： 尚未完善 地址： 廣東 深圳市
[探針臺 4英寸探針臺 測試探針臺]
郵箱：
手機(jī)：
- 品牌： CINDBEST
- 型號： CS-4
- 產(chǎn)品別名： 半導(dǎo)體測試探針臺
- 用途： 半導(dǎo)體測試
- 適用行業(yè)： 高校實(shí)驗(yàn)室
- 產(chǎn)品用途： 半導(dǎo)體測試
產(chǎn)品介紹
CS系列探針臺造型小巧，測量精度高，操作方便，符合人機(jī)工程學(xué)。主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)以及光電行業(yè)的測試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)。
4寸手動(dòng)探針臺
適合4英寸以內(nèi)樣品測試
體積小巧，可作為手套箱內(nèi)探針臺
產(chǎn)品參數(shù)
| | | | |
| 是否有現(xiàn)貨： | 是 | 品牌： | cindbest |
| 加工定制： | 是 | 測量范圍： | 100FA-10A |
| 尺寸： | 400*400mm | 電池種類： | 沒電池 |
| 測量精度： | 100fA | 電源電壓： | 220V |
| 用途： | 半導(dǎo)體產(chǎn)品電學(xué)參數(shù)測試 | 型號： | CS系列 |
| 規(guī)格： | 4英寸標(biāo)準(zhǔn)探針臺 | 商標(biāo)： | cindbest |
| 包裝： | 木箱 | | |
技術(shù)參數(shù)
| 規(guī)格 | ||
| Chuck（可選） | 4" 或6" 不銹鋼，真空吸附型，獨(dú)立開關(guān)控制 | |
| Chuck X-Y軸行程，精度 | 4" x4"，10um | |
| Chuck 旋轉(zhuǎn)角度 | 0~360 度 | |
| Chuck 旋轉(zhuǎn)角度微調(diào)精度 | 0.01° | |
| Chuck快速升降（選配） | 4mm | |
| Chuck微調(diào)升降（選配） | 4mm ，1um精度 | |
| Chuck 平整度 | 5um | |
| 針座平臺 | C型設(shè)計(jì)，可放置8個(gè)BT 型針座，可擴(kuò)展為O型平臺 | |
| 針座平臺平整度 | 5 um | |
| 顯微鏡Z軸行程，精度 | 2"，細(xì)調(diào)精度0.1um | |
| 需求 | ||
| 電力 | 220 VAC, 60Hz | |
| | ||
| 真空 | -250 mmHg, 7 liter/min | |
| | ||
| 尺寸 | ||
| 320mm寬*320mm長*400mm高（帶顯微鏡） | ||
| 重 20 Kg（帶顯微鏡） | ||
| 可選附件 | ||
| 激光切割 | ||
| 加熱臺 | ||
| 防震桌 | ||
| 顯微鏡暗場 / DIC/Normarski 檢測 | ||
| 光強(qiáng)/波長測試接口部件 | ||
| 射頻測試探頭和線纜 | ||
| 有源探頭 | ||
| 低電流/電容測試 | ||
| 高壓測試 | ||
| CCD視頻系統(tǒng) | ||
| 液晶漏電分析套裝 | ||
| 黑箱子 | ||
| 鍍金Chuck | ||
性能特點(diǎn)
-
CS探針臺能夠勝任的測試有：
| 序號 | 根據(jù)測試樣品分類 | | 序號 | 根據(jù)應(yīng)用分類 |
| 1 | 晶圓測試 | | 1 | 射頻測試 |
| 2 | LED測試 | | 2 | 高溫環(huán)境測試 |
| 3 | 功率器件測試 | | 3 | 低電流（100fA 級）測試 |
| 4 | MEMS測試 | | 4 | I-v/c-v/p-iv測試 |
| 5 | PCB測試 | | 5 | 高壓，大電流測試 |
| 6 | 液晶面板測試 | | 6 | 磁場環(huán)境測試 |
| 7 | 太陽能電池片測試 | | 7 | 輻射環(huán)境測試 |
| 8 | 材料表面電阻率測試 | | 9 | 積分球測試 |
使用說明
-
將樣品載入真空卡盤，開啟真空閥門控制開關(guān)，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。
-
使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤平臺，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。
-
使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤平臺將樣品待測試點(diǎn)移動(dòng)至顯微鏡下。
-
顯微鏡切換為高倍率物鏡，在大倍率下找到待測點(diǎn)，再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品x-y，將影像調(diào)節(jié)清晰,帶測點(diǎn)在顯微鏡視場中心。
-
待測點(diǎn)位置確認(rèn)好后,再調(diào)節(jié)探針座的位置,將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測點(diǎn)的位置旁邊,再使用探針座X-Y-Z三個(gè)微調(diào)旋鈕,慢慢的將探針移至被測點(diǎn),此時(shí)動(dòng)作要小心且緩慢，以防動(dòng)作過大誤傷芯片，當(dāng)探針針尖懸空于被測點(diǎn)上空時(shí)，可先用Y軸旋鈕將探針退后少許，再使用Z軸旋鈕進(jìn)行下針，最后則使用X軸旋鈕左右滑動(dòng)，觀察是否有少許劃痕，證明是否已經(jīng)接觸。
-
確保針尖和被測點(diǎn)接觸良好后，則可以通過連接的測試設(shè)備開始測試。
產(chǎn)品實(shí)拍圖
電議
電議
電議
深圳市森東寶科技有限公司
注冊資金：100萬以下
聯(lián)系人：吳小姐
固話：0755-29412885
移動(dòng)手機(jī)：18890189035
企業(yè)地址：廣東 深圳市 寶安區(qū)
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