供應(yīng)X射線熒光分析儀移動的化驗室

X射線熒光分析儀的優(yōu)勢：

     在傳統(tǒng)的礦產(chǎn)勘查中，我們對礦石中元素的分析確定無外乎2種，一種是憑借老工程師的工作經(jīng)驗，根據(jù)肉眼觀察分析，礦石的成色和性狀來推測元素組成，這種方法快速方便，但是很有局限性，一是對勘探隊的老工程師的勘探技術(shù)要求很高，二是及時能大體看出礦種也很難確定各種元素的品位。另一種呢就是采樣品到化驗室去進行化學(xué)滴定檢驗。這種方法能準(zhǔn)確的得到元素種類和品位含量等數(shù)據(jù)，但是不能現(xiàn)場測量，且化驗時間很長，有時候會影響工程進度。

    有沒有一種既能快速的現(xiàn)場分析出礦石中各種元素的組成，又能準(zhǔn)確的推斷其含量，既省時又的方法呢。 便攜式X熒光光譜儀——一個滿足您金屬檢測、礦石分析需求的“流動化驗室無需制樣，對準(zhǔn)即測，完全無損檢測,可靠； 您金屬檢測、合號鑒別、礦石現(xiàn)場分析、礦藏勘探的助手！

X射線熒光分析儀的品牌

   美國伊諾斯公司致力于研發(fā)和生產(chǎn)精密X射線分析儀器，廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)領(lǐng)域、科研機構(gòu)、自動化領(lǐng)域和材料分析領(lǐng)域。

美國伊諾斯(Innov-X System)公司位于美國波士頓，美國紐約交易所上市企業(yè)，是*的微型X熒光光譜技術(shù)研發(fā)商，生產(chǎn)的Innov-X OMEGA系列、Alpha系列便攜式X射線螢光光譜分析儀占據(jù)歐美手提式X熒光分析儀70%的市場份額。

美國伊諾斯公司于2006年與北京地森?？萍及l(fā)展有限責(zé)任公司合作，在北京成立了 Innov-X中國服務(wù)中心。為中國地區(qū)的客戶提供儀器安裝、軟件調(diào)試、使用培訓(xùn)、儀器校驗、硬件維修與維護等售后服務(wù)。全程售服管理體系讓你沒有后顧之憂。

X射線熒光分析儀的應(yīng)用領(lǐng)域

1、快速普查超大范圍的礦區(qū)，有效地測定地帶模式，繪制礦山圖、實時勘察。

2、發(fā)現(xiàn)異常狀況，做到優(yōu)先開采富礦區(qū)。

3、現(xiàn)場快速探測礦化異常，有效地尋找“熱點”地帶，圈定礦體邊界。

4、對銑頭、精礦和礦渣快速、的分析，以建立開采和富集的過程。

5、判定礦帶走向及礦石含量的異常，確保礦山現(xiàn)場日常工作的有效管理，避免錯誤開采。

6、對高品位、精選礦石的品位評定，提供礦石采集、價值依據(jù)。

7、對礦渣、尾礦中殘存的礦石元素分析，再次判定其價值。

8、在礦石開采過程，搪孔過程，研磨、濃縮和熔煉過程中進行品檢，確定品位，對濾熔池、存儲塘和鋼槽溶液進行分析。

9、Innov—X便攜式XRF分析儀在土壤中金屬成份檢測方面符合EPA Method6200。

10、在空氣過濾介質(zhì)、灰塵抹布的合鋁方面符合NIOSHMethod7702，OSHAMethodsOSSAl，OSSl。

11、污染水、廢水中污染金屬成份、污染模式、污染邊界的迅速調(diào)查與測量。

12、現(xiàn)場監(jiān)測RCRA所涉及的金屬和優(yōu)先控制的污染金屬。

13、原土地、污染水、廢水、等有害物質(zhì)的現(xiàn)場處置最小化處理并給污染控制、補救方法的深度分析提供理論依據(jù)。

14、因環(huán)境污染而導(dǎo)致的疾病與很多重金屬元素有關(guān)，如：(Ni,Cr)、肝病(As,Cu)、

肺塵癥(Fe)、(Ni）帕金森氏綜合癥(Mn)。

X射線熒光分析儀的檢測下限

可分析從從鎂礦(Mg)到钚礦(Pu)之間的所有83種自然礦石。

(高端型)礦石分析儀器Innov-X Delta DP6000的分析模式與元素種類

分析模式 分析元素

元素分析外圍 分析外圍：從12號元素P到94號元素PU范圍內(nèi)的34種基本元素，在以上范圍內(nèi)，可以根據(jù)客戶需要更換其他元素。

％：Mining Beam1模式 Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Zr, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, W, Pb, Bi等19元素。

％：Two beam mining Beam2模式 Mg, Al, Si, P, S, Cl、K、Ca、Ti、Mn等10元素

ppm：Soil Beam1模式 Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, Ba, Pt, Au, Hg, Pb 等23元素

ppm：Soil Beam2模式 Ti, V, Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, W, Hg, Pb, Bi, Th, U等24元素

ppm：Soil Beam3模式 P、S、Cl、K、Ca、Ti、Cr 、Mn、Fe、I、Ba 等11元素

Delta DP6000在SIO2下的120秒檢測下限（PPM）

元素 Delta DP6000 （LOD） 元素 Delta DP6000 （LOD）

P  500 - 700  Se  1~3

S  100 - 250  Rb  1

Cl  60 - 100  Sr  1

K  30 - 50  Zr  1

Ca  20 - 30  Mo  1

Ti  7~15 Ag  6~8

Cr1  5~10 Cd  6~8

Mn  3~5 Sn  11~15

Fe  5 Sb  12~15

Ni  10~20 Ba2  10~20

Cu  5~7 Hg  2~4

Zn  3~5 Pb  2~4

As  1~3 Mg ~1.0%

Al 0.5% Si 0.50%

Delta DP6000在SIO2下的120秒檢測下限

X射線熒光分析儀的技術(shù)性能：

真正實現(xiàn)在現(xiàn)場進行無損,快速,準(zhǔn)確的檢測,直接顯示元素的ppm含量與百分比含量。

只需將(經(jīng)典型)礦石分析儀直接接觸待測礦石表面，無須等待和花費時間即可現(xiàn)場確定礦石等級。

被檢測的樣品的對象可以是礦石、巖石、礦渣、碎片;土壤、泥土、泥漿;粉塵、灰塵、過濾物、薄膜層;廢水、廢油等等的固體、液體物質(zhì)。

最快的分析速度, 僅需5秒鐘就可識別礦石元素。

用戶化windows CE 6.0系統(tǒng)驅(qū)動的微電腦顯示系統(tǒng)使所有功能皆可現(xiàn)場完成，用戶化windows CE僅保留有最基本的windows與Delta系統(tǒng)有關(guān)的性能，使程序更具靈活性。

無需借助電腦，可在現(xiàn)場隨意，查看，放大相關(guān)元素的光譜圖。

防塵,防霧,防水：一體機設(shè)計，軟膠與塑膠部件凸槽 & 凹槽 構(gòu)造設(shè)計，使儀器具有很好的三防性能，可承受惡劣的工作環(huán)境,大霧,下雨,塵土飛揚工裝場地也能正常工作。

腰帶、槍套、肩帶能將儀器牢牢地固定在你的腰部，可在野外活動自如。

更高的檢測精度，多次測試的平均值統(tǒng)計功能可有效地提高儀器的檢測精度。

超大的圖標(biāo)顯示，菜單式驅(qū)動，微電腦WINDOWS系統(tǒng)使儀器操作更加簡便。

電磁干擾被，即使在靠近手機或雙向無線通信裝置處也能正常工作。

X射線熒光分析儀的售后服務(wù)：

Innov-X售后服務(wù)

　　美國伊諾斯公司于2006年與北京地森?？萍及l(fā)展有限責(zé)任公司合作，在北京成立了 Innov-X中國服務(wù)中心。負責(zé)整個中國市場的銷售與技術(shù)服務(wù)。為中國地區(qū)的客戶提供儀器安裝、軟件調(diào)試、使用培訓(xùn)、儀器校驗、硬件維修與維護等售后服務(wù)。全程售服管理體系讓你沒有后顧之憂。

１．：

　北京地森海科技發(fā)展有限責(zé)任公司保證向客戶提供，美國Innov-X公司儀器，使用最上等的材料和頭等工藝制成，全新，進口，未曾使用，并完全符合本合同規(guī)定的質(zhì)量。貨品期為十二個月，從貨物（調(diào)試）最終驗收日起算。請客戶認清“（Innov-X System）商標(biāo)，防止目前中國區(qū)市場假冒偽劣產(chǎn)品。

２．技術(shù)培圳：

　如何使用正確的XRF方法進行合金及牌檢測

　Innov-X Delta DP6000的操作方法

　Innov-X Delta DP6000的保養(yǎng)方法

３．售后服務(wù)：

美國（Innov-X System）公司為其范圍內(nèi)的伊諾斯產(chǎn)品提供售后服務(wù)。美國伊諾斯（Innov-X System）公司為其范圍內(nèi)的伊諾斯產(chǎn)品主機提供壹年的保修期，為X射線管（X-tube），探測器(Dector)提供2000小時或壹年的保修期，為PDA提供壹年的保修期。附件鋰電池，電源供應(yīng)器，充電器, 數(shù)據(jù)傳輸座不在保修范圍內(nèi)。

4、下述物理性損壞不保修。

A：儀器承受很大的沖擊力導(dǎo)致機器內(nèi)部的沖擊傳感器由白色變成紅色。

B：detector破損。

C：PDA破損。

D：儀器外殼破損。

E：附件

F：部件丟失。

G：儀器進異物。