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供應(yīng)帶板老化測(cè)試座

揚(yáng)州市板老化測(cè)試座廠家

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LJZ雙列集成電路帶板老化測(cè)試座該產(chǎn)品用于航空航天、、科研單位以及集成電路生產(chǎn)企業(yè)，可配進(jìn)口老化臺(tái)、老化板做器件及高、低溫測(cè)試、老化篩選作連接之用。產(chǎn)品型號(hào)及規(guī)格；帶板LJZ-14、18 主要技術(shù)指標(biāo)；間距；2.54mm 環(huán)境溫度；-55℃—+155℃ 接觸電阻；≤0.01歐工作電壓；DC500V 單腳插入力；≤0.2Kg 彈片金層厚度；1um鎳2um金標(biāo)簽：揚(yáng)州市板老化測(cè)試座揚(yáng)州市板老化測(cè)試座廠家