ALFA表盤外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

ALFA表盤外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

表盤是一個(gè)手表中最吸引目光的部件，但如果上面有缺陷就會(huì)讓視覺感官大打折扣。由于表盤上的缺陷比較細(xì)小，用普通的檢測(cè)難以達(dá)到很好的成效，用ALFA軟件來(lái)檢測(cè)則會(huì)達(dá)到事半功倍的效果。

   簡(jiǎn)介：

檢測(cè)樣品：表盤外觀檢測(cè)

檢測(cè)精度：最小缺陷0.8mm*0.8mm

檢測(cè)項(xiàng)目：劃傷，起泡，黃斑，發(fā)白，混料等

測(cè)量項(xiàng)目：金屬件大小圓的半徑和圓度。

硬件配置：

工控機(jī)：I7-7700+GTX1080Ti

相機(jī)：凌云LBAS-GE50-23M 500W像素彩色相機(jī)

光源：沃德普白色同軸COP-40W

鏡頭：25mm

硬觸發(fā)傳感器：博億ER2-22P  PNP型

與自動(dòng)化設(shè)備的配合：采用傳感器硬觸發(fā)的方式采圖檢測(cè)，檢測(cè)的結(jié)果通過相機(jī)電源線IO輸出，經(jīng)過運(yùn)動(dòng)控制卡IO點(diǎn)驅(qū)動(dòng)電磁閥直接剔除。

檢測(cè)步驟：

1、定位，定位的原理是通過對(duì)圖片中的表盤進(jìn)行標(biāo)定后訓(xùn)練得出定位模型，再根據(jù)模型來(lái)與圖片比對(duì)找出表盤的位置。

2、選定感興趣區(qū)域，編輯遮罩，將不需要檢測(cè)的部分剔除，防止干擾。

3、缺陷檢測(cè)，通過標(biāo)記缺陷訓(xùn)練圖片形成模型，根據(jù)模型尋找缺陷并打分，分?jǐn)?shù)較高的則是有缺陷的圖片。下圖左側(cè)顯示原始圖像，右側(cè)顯示ALFA系統(tǒng)處理后的結(jié)果圖像，對(duì)比清晰。

檢測(cè)結(jié)果：

由于生產(chǎn)要求較高，在實(shí)際生產(chǎn)過程中，客戶技術(shù)人員需要定時(shí)抽檢該系統(tǒng)運(yùn)行狀況，界面實(shí)時(shí)顯示采集的原圖像和處理后圖像并對(duì)缺陷進(jìn)行分類，方便客戶質(zhì)檢人員對(duì)產(chǎn)品的抽檢。

經(jīng)過建模訓(xùn)練后到投入生產(chǎn)線中量產(chǎn)，最終檢測(cè)合格率：99.2%。

技術(shù)特點(diǎn)：

1、檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)格，輕微瑕疵識(shí)別率可達(dá)99%。

2、由于被檢測(cè)物體的圖像對(duì)比度高、背景統(tǒng)一、缺陷檢測(cè)要求高，適合深度學(xué)習(xí)系統(tǒng)的檢測(cè)模式，因此前期采圖建模時(shí)間較短。

3、適用性強(qiáng)，深度學(xué)習(xí)模型可在win7、win10系統(tǒng)暢運(yùn)行?？捎糜贑#，C++，labview等平臺(tái)的調(diào)用?？纱钆淦渌麄鹘y(tǒng)視覺軟件做二次開發(fā)或軟件升級(jí)優(yōu)化。