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功率器件測試實(shí)驗(yàn)室(長禾實(shí)驗(yàn)）IGBT測試

[IGBT測試]

西安市測試實(shí)驗(yàn)室廠家

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品牌： 其他
型號： 長禾
加工定制： 是
類型： 防雷元件測試儀
測量范圍： 半導(dǎo)體器件電參數(shù)
測量頻率： 50HZ
重量： 357KG
尺寸： 800x800x1800

產(chǎn)品參數(shù)

品牌：其他 型號：長禾 加工定制：是 類型：防雷元件測試儀 測量范圍：半導(dǎo)體器件電參數(shù) 測量頻率：50HZ 重量：357KG 尺寸：800x800x1800

誠信立世，感恩回饋，歡迎選擇長禾實(shí)驗(yàn)室做您忠誠的合作伙伴，共謀發(fā)展大計(jì)！檢測項(xiàng)目覆蓋產(chǎn)品檢測能力參考標(biāo)準(zhǔn) 功率循環(huán)試驗(yàn)（PC） IGBT模塊 ΔTj=100℃ 電壓電流1800A 12V IEC 客戶自定義高溫反偏試驗(yàn)（HTRB） MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR，第三代半導(dǎo)體器件等單管器件溫度150℃；電壓2000V 美軍標(biāo)，，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等高溫門極試驗(yàn)（HTGB） MOSFET、SiC MOS等單管器件溫度150℃；電壓2000V 美軍標(biāo)，，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等高溫工作壽命試驗(yàn)（HTOL） MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、第三代半導(dǎo)體器件等單管器件溫度150℃ 電壓2000V 美軍標(biāo)，，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等低溫工作壽命試驗(yàn)（LTOL） MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、第三代半導(dǎo)體器件等單管器件溫度-80℃ 電壓2000V 美軍標(biāo)，，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)（HTSL） MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、IGBT模塊、第三代半導(dǎo)體器件等產(chǎn)品及其他電子產(chǎn)品溫度150℃；美軍標(biāo)，，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)（LTSL） MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、IGBT模塊、第三代半導(dǎo)體器件等產(chǎn)品及其他電子產(chǎn)品溫度-80℃ 美軍標(biāo)，，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等高溫高濕試驗(yàn)（THB） MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、IGBT模塊、第三代半導(dǎo)體器件等產(chǎn)品及其他電子產(chǎn)品溫度180℃ 濕度范圍：10%~98% 美軍標(biāo)，，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等高低溫循環(huán)試驗(yàn)（TC） MOSFET、IGBT、IDIODE、BJT、SCR、IC、IGBT模塊、第三代半導(dǎo)體器件等產(chǎn)品及其他電子產(chǎn)品溫度范圍：-80℃~220℃ 美軍標(biāo)，，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等間歇壽命試驗(yàn)（IOL）功率循環(huán)試驗(yàn)（PC） MOSFET、DIODE、BJT、IGBT及第三代半導(dǎo)體器件等單管器件 ΔTj≧100℃ 電壓電流48V，10A 美軍標(biāo)，，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等穩(wěn)態(tài)功率試驗(yàn)（SSOL） MOSFET、DIODE、BJT、IGBT及第三代半導(dǎo)體器件等單管器件 ΔTj≧100℃ 電壓電流48V，10A 美軍標(biāo)，，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等高加速應(yīng)力試驗(yàn)（HAST） MOSFET、DIODE、BJT、IGBT及第三代半導(dǎo)體器件等產(chǎn)品及其他電子產(chǎn)品溫度130℃/110℃ 濕度85% 美軍標(biāo)，，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等 *無偏壓的高加速應(yīng)力試驗(yàn)（UHAST） MOSFET、DIODE、BJT、IGBT及第三代半導(dǎo)體器件等產(chǎn)品及其他電子產(chǎn)品溫度130℃ 濕度85% 美軍標(biāo)，，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等高溫蒸煮試驗(yàn)（PCT） MOSFET、DIODE、BJT、IGBT及第三代半導(dǎo)體器件等產(chǎn)品及其他電子產(chǎn)品溫度121℃ 濕度美軍標(biāo)，，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等預(yù)處理試驗(yàn)（Pre-con）所有SMD類型器件設(shè)備滿足各個(gè)等級的試驗(yàn)要求美軍標(biāo)，，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等潮氣敏感度等級試驗(yàn)（MSL）所有SMD類型器件設(shè)備滿足各個(gè)等級的試驗(yàn)要求美軍標(biāo)，，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等 *可焊性試驗(yàn)（Solderability） MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、第三代半導(dǎo)體器件等單管器件有鉛、無鉛均可進(jìn)行美軍標(biāo)，，JEDEC，IEC，AEC,客戶自定義等

產(chǎn)品實(shí)拍

西安長禾半導(dǎo)體技術(shù)有限公司

半導(dǎo)體分立器技術(shù)推廣技術(shù)轉(zhuǎn)讓測試檢測

公司簡介

西安長禾半導(dǎo)體技術(shù)有限公司功率器件測試實(shí)驗(yàn)室(簡稱長禾實(shí)驗(yàn)室)位于西安市高新技術(shù)開發(fā)區(qū)，是一家專業(yè)從事功率半導(dǎo)體器件測試服務(wù)的，是國家CNAS 認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室，屬于專業(yè)大功率器件測試服務(wù)中心。

長禾實(shí)驗(yàn)室擁有尖端的系統(tǒng)設(shè)備、專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)和完善的服務(wù)體系。實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)有的測試儀器設(shè)備100余臺套，專業(yè)測試人員20余名。我們緊跟國際國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)，以客戶需求為導(dǎo)向，不斷創(chuàng)新服務(wù)項(xiàng)目和檢測技術(shù)，借助便利的服務(wù)網(wǎng)絡(luò)，為合作伙伴提供優(yōu)質(zhì)的技術(shù)服務(wù)。

長禾實(shí)驗(yàn)室專注于功率半導(dǎo)體器件的動(dòng)、靜態(tài)參數(shù)檢測、可靠性檢測、失效分析、溫循試驗(yàn)、熱阻測試等領(lǐng)域的技術(shù)服務(wù)。業(yè)務(wù)范圍主要涉及國內(nèi)軌道交通、風(fēng)力發(fā)電、科研單位、院所、工業(yè)控制、兵器船舶、航空航天、新能源汽車等行業(yè)。也是第三代半導(dǎo)體（寬禁帶半導(dǎo)體）應(yīng)用解決方案服務(wù)商。